[发明专利]晶体材料光吸收系数的测量方法

权利要求书

1.一种晶体材料光吸收系数的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、将高功率的抽运光入射到晶体（2）表面，使其产生热形变；

步骤2、用干涉仪发射出一个标准平面波，平面波通过被抽运激光作用的晶体（2）表面后，经平面反射镜（4）将平面波按原路反射回来，再次经过晶体（2）表面后进入干涉仪（5），并与标准平面波相遇发生干涉，得到干涉图；其中干涉仪与晶体（2）的角度和平面反射镜（4）与晶体（2）的角度相同；

步骤3、根据干涉图，通过相位解包算法得到晶体（2）表面的热形变量，通过建立晶体热形变与吸收系数的理论模型得到晶体的吸收系数。

2.根据权利要求1所述的一种晶体材料光吸收系数的测量方法，其特征在于，步骤1中的抽运激光装置（1）架设在一个稳定平台上，并向下照射晶体表面；由于采用了高功率连续激光照射，晶体（2）会吸收激光的能量，其中的绝大部分能量转换为晶体的热变形。

3.根据权利要求1所述的一种晶体材料光吸收系数的测量方法，其特征在于，步骤2中的干涉仪与晶体表面成45度放置，平行光入射晶体变形表面，经晶体（2）反射后入射到平面反射镜（4），此平面反射镜（4）与晶体（2）也成45度放置，由于变形量很小，我们可以近似认为光线是按原路返回而没有反生偏转，并再次入射到晶体（2）表面后，反射后的出射光与参考光进行干涉，并通过CCD（6）采集得到的干涉条纹。

4.根据权利要求1所述的一种晶体材料光吸收系数的测量方法，其特征在于，步骤3通过编写的相位解包程序可以得到晶体表面的形变量，根据公式

算出晶体的光吸收系数；其中表示抽运激光功率，为抽运激光光束口径的直径，为抽运激光导致晶体热变形区域的径向距离， 

为温度场边界半径，为晶体的热传导率， 为激光晶体z向热膨胀系数。

5.根据权利要求1所述的一种晶体材料光吸收系数的测量方法，其特征在于，步骤一所述的干涉仪可以是菲索干涉仪（5）。

6.根据权利要求3所述的一种晶体材料光吸收系数的测量方法，其特征在于，干涉仪与晶体（2）角度和平面反射镜（4）与晶体（2）角度也可以为其他角度。