[发明专利]一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱及其制作方法

权利要求书

1.一种荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱的制作方法，其特征在于依次包括如下步骤：

步骤一、收集带有不同缺陷的零部件试样

借助物理金相的方法，通过加工、研磨、腐蚀、在显微镜下观察，采集这些零部件试样中缺陷的形貌、尺寸，并根据尺寸划分等级

步骤二、对零部件试样进行荧光渗透检测；

对用物理金相的方法观察过的试样，进行荧光渗透检测，收集不同缺陷真实的荧光显示状态，其中裂纹类缺陷的显示是线性的，夹杂和疏松类缺陷的显示为点状或片状；

步骤三、绘制对比图谱

将试样的物理金相结果与荧光渗透检测结果进行对比，模拟绘制对比图谱，使对比图谱中的检验标准与缺陷真实的荧光显示状态保持一致，对比图谱中的尺寸等级与物理金相收集的缺陷真实的尺寸进行校准

步骤四、对标准图谱进行转换输出；

步骤五、制成在紫外线下荧光显示的标准对比图谱。

2. 一种采用权利要求1所述的方法制成的荧光渗透检验缺陷尺寸的对比图谱，其特征在于：所述对比图谱包括检验标准和数字；所述检验标准的形状与缺陷的荧光显示形状保持一致；数字代表不同的尺寸等级。

3.如权利要求2所述的对比图谱，其特征在于：所述检验标准和数字在自然光下可以看到，在紫外线下也可以看到。

4.如权利要求2或3所述的对比图谱，其特征在于：所述检验标准包括圆形、椭圆形、细线形、粗线形；所述圆形、椭圆形对应夹杂、疏松类缺陷的检测；所述细线形、粗线形对应裂纹类缺陷的检测。

5.如权利要求4所述的对比图谱，其特征在于：所述数字包括0.1、0.2、0.3、0.5、0.8、1、1.2、1.5、2、2.5、3、3.5、4、4.5、5；所述数字与不同形状的检验标准对应，代表不同的尺寸，单位为mm。