[发明专利]光拾取装置

权利要求书

1.一种光拾取装置，包括：

物镜，其用于为了读取记录在设于光盘的多个信号记录层上的信号而使激光会聚在各信号记录层上；

衍射光栅，其用于供激光入射并且产生作为0级光的主光束、作为+1级光的副光束及-1级光的副光束；

光检测器，其将第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部配置在同一直线上，该第1副光束用受光部及第2副光束用受光部用于供自信号记录层反射的副光束照射且产生循道错误信号，并且由四分割传感器构成上述第1副光束用受光部及第2副光束用受光部，该主光束用受光部用于供自信号记录层反射的主光束照射且产生再现信号及聚焦错误信号，并且由四分割传感器构成上述主光束用受光部；

偏振元件，其用于向物镜方向引导从激光二极管放射的激光，并且向上述光检测器方向引导自光盘的信号记录层反射的返回光；

1/4波片，其设于该偏振元件和上述物镜之间且用于将从激光二极管侧入射的激光从直线偏振光转变成圆偏振光，并且将从物镜侧入射的返回光从圆偏振光转变成直线偏振光，该光拾取装置的特征在于，

在上述1/4波片的透过激光的区域的一部分中形成无偏振区域，并且设定透过了该1/4波片的返回光的、由上述偏振元件产生的朝向光检测器方向的分离光量比率，从而降低作为自不进行信号的读取动作的信号记录层反射的激光的杂散光的朝向副光束用受光部的照射强度。

2.一种光拾取装置，包括：

物镜，其用于为了读取记录在设于光盘的多个信号记录层上的信号而使激光会聚在各信号记录层上；

衍射光栅，其用于供激光入射并且产生作为0级光的主光束、作为+1级光的副光束及-1级光的副光束；

光检测器，其将第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部配置在同一直线上，该第1副光束用受光部及第2副光束用受光部用于供自信号记录层反射的副光束照射且产生循道错误信号，并且由四分割传感器构成上述第1副光束用受光部及第2副光束用受光部，该主光束用受光部用于供自信号记录层反射的主光束照射且产生再现信号及聚焦错误信号，并且由四分割传感器构成上述主光束用受光部；

偏振元件，其用于向物镜方向引导从激光二极管放射的激光，并且向上述光检测器方向引导自光盘的信号记录层反射的返回光；

1/4波片，其设于该偏振元件和上述物镜之间且用于将从激光二极管侧入射的激光从直线偏振光转变成圆偏振光，并且将从物镜侧入射的返回光从圆偏振光转变成直线偏振光，该光拾取装置的特征在于，

在上述1/4波片的透过激光的区域的一部分上形成使偏振角度不同的不同偏振区域，并且设定透过了该1/4波片的返回光的、由上述偏振元件产生的朝向光检测器方向的分离光量比率，从而降低作为自不进行信号的读取动作的信号记录层反射的激光的杂散光的朝向副光束用受光部的照射强度。

3.根据权利要求1或2所述的光拾取装置，其特征在于，

由半透半反镜构成偏振元件。

4.根据权利要求1或2所述的光拾取装置，其特征在于，

由偏振光分束器构成偏振元件。

5.根据权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

形成在1/4波片上的无偏振区域是以通过光轴中心的狭缝状形成的。

6.根据权利要求5所述的光拾取装置，其特征在于，

使利用狭缝状的无偏振区域降低杂散光的照射强度的方向与设于光检测器的第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部的配置方向一致。

7.根据权利要求6所述的光拾取装置，其特征在于，

将偏振区域设在狭缝状的无偏振区域的中央部上。

8.根据权利要求6所述的光拾取装置，其特征在于，

以使降低照射强度的杂散光的宽度宽于第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部的与配置方向垂直的方向的宽度的方式设定狭缝的宽度。

9.根据权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，

形成在1/4波片上的不同偏振区域是以通过光轴中心的狭缝状形成的。

10.根据权利要求9所述的光拾取装置，其特征在于，

使利用狭缝状的无偏振区域降低杂散光的照射强度的方向与设于光检测器的第1副光束用受光部、第2副光束用受光部和主光束用受光部的配置方向一致。