[发明专利]荧光强度补偿方法及荧光强度计算装置

权利要求书

1.一种荧光强度补偿方法，包括：

向用荧光波段彼此重叠的多种荧光染料多重标记的微粒照射光以激发所述荧光染料，并使用具有不同接收波段的光检测器接收由激发的荧光染料产生的荧光；以及

通过在对算得的荧光强度赋予预定限制条件下补偿所述光检测器的检测值来计算所述荧光染料的荧光强度。

2.根据权利要求1所述的荧光强度补偿方法，其中，在计算荧光强度的过程中，通过使用从标记有一种所述荧光染料的微粒获得的单染色光谱和从未标记任何一种所述荧光染料的微粒获得的自身荧光光谱的线性和对测量光谱进行近似来计算各个所述荧光染料的荧光强度和自身荧光强度，所述测量光谱是通过收集所述光检测器的检测值来获得的。

3.根据权利要求1所述的荧光强度补偿方法，其中，所述限制条件为算得的各个所述荧光染料的各个荧光强度和自身荧光强度大于或等于预定最小值。

4.根据权利要求3所述的荧光强度补偿方法，其中，所述限制条件还包括算得的各个所述荧光染料的各个荧光强度和自身荧光强度小于或等于预定最大值的条件。

5.根据权利要求4所述的荧光强度补偿方法，其中，在计算荧光强度的过程中，使用单染色光谱和自身荧光光谱的线性和对所述测量光谱的近似采用最小二乘方法来执行。

6.根据权利要求5所述的荧光强度补偿方法，其中，在计算荧光强度的过程中，通过求得使下式的评价函数为最小值的参数a_k来计算各个所述荧光染料的各个荧光强度和自身荧光强度：

χ2≡Σi=1N[yi-Σk=1MakXk(xi)σi]2]]>

其中，k＝1～M，X_k(x_i)表示第k种荧光染料的单染色光谱或自身荧光光谱中第i个光检测器的检测值，y_i表示测量光谱中第i个光检测器的检测值，及σ_i表示第i个光检测器的检测值的加权倒数。

7.一种荧光强度计算装置，包括：

测量单元，被配置为向用荧光波段彼此重叠的多种荧光染料多重标记的微粒照射光以激发所述荧光染料，并使用具有不同接收波段的光检测器接收由激发的荧光染料产生的荧光；以及

计算单元，被配置为通过在对算得的荧光强度赋予预定限制条件下补偿所述光检测器的检测值来计算所述荧光染料的荧光强度。