[发明专利]超短光纤中布里渊散射高精度测量系统

权利要求书

1.一种超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于该系统的构成包括激光器（2）,在该激光器（2）的输出方向接光纤耦合器（3）的输入端，该光纤耦合器（3）的一个输出端依次经第一偏振控制器（4）、光纤隔离器（5）、探测光纤（6）接环形器（9）的一端；所述的光纤耦合器（3）的另一个输出端依次经第二偏振控制器（13）接单边带调制器（7）的一个输入端，该单边带调制器（7）的输出端经光纤放大器（8）接所述的环形器（9）的另一输入端，该环形器（9）的输出端经光电探测器（10）接锁相放大器（11）的第一输入端，该锁相放大器（11）的输出端接数据采集处理系统（12），一个方波信号发生器（14）分别与所述的单边带调制器（7）的第二输入端和所述的锁相放大器（11）的第二输入端相连。

2.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于，所述的单边带调制器（7）为双Mach—Zehnder型单边带调制器，通过所述的方波信号发生器（14），使泵浦光进行上下边频周期交替变换，使得探测光前半个周期处于布里渊增益过程，后半个周期处于布里渊损耗过程。

3.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于所述的光纤放大器（8）是两级放大的掺铒光纤放大器（EDFA），第一级放大器是小信号放大器，第二级放大器是大信号放大器。

4.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于所述的激光器（2）为保偏光纤输出激光器，所述的光纤耦合器（3）为保偏光纤耦合器，所述的光纤隔离器（5）为保偏光纤隔离器，所述的环形器（9）为保偏环形器。

5.根据权利要求1所述的超短光纤中布里渊散射高精度测量系统，其特征在于所述的激光器（2）为1550nm的半导体激光器。