[发明专利]一种光耦好坏的检测方法无效
| 申请号： | 201110245015.0 | 申请日： | 2011-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN102411104A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 闫武杰 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 好坏 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种光耦好坏的检测方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
A、将光耦的输入端与电阻R1和电源连接成完整回路，将光耦输出端与电阻R2和电源连接成完成回路；
B、在光耦的输入端依次输入几种不同大小的电流，在光耦输出端输入脉动的直流信号；
C、测出光耦的输入端输入几种不同电流时，对应光耦输出端输出的电压图形；
D、根据输出端的电压图形判断出光耦的好坏。
2.根据权利要求1所述的一种光耦好坏的检测方法，其特征在于：所述步骤A的光耦接入电路中，还可以将光耦输入端和输出端的两个电流输出脚连接到一起。
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