[发明专利]阵列测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测试玻璃面板的阵列测试装置。

背景技术

一般来说，平板显示器(FPD)是比具有布劳恩管(Braun Tube)的电视机或显示器更轻更薄的图像显示设备。液晶显示器(LCD)、等离子体显示面板(PDP)、场致发射显示器(FED)以及有机发光二极管(OLED)是已开发并使用的平板显示器的代表性实例。

这些FPD中的LCD是以向排列为矩阵形状的液晶单元独立地提供基于图像信息的数据信号、并且因此控制液晶单元的透光性的方式，来显示期望图像的图像显示器。LCD薄且轻，而且还具有包括功耗低、以及操作电压低在内的许多其它优点，因此被广泛地使用。下面将描述一种制造用在这种LCD中的液晶面板的典型方法。

首先，在上玻璃面板上形成彩色滤光片和共用电极。之后，在对应于上玻璃面板的下玻璃面板上形成薄膜晶体管(TFT)和像素电极。其后，将配向膜层分别施加至上玻璃面板和下玻璃面板。之后，摩擦配向膜层，以便为后来将要形成在这些配向膜层之间的液晶层中的液晶分子提供预倾角和配向方向。

此后，通过将密封胶涂布至玻璃面板中的至少一个来形成密封胶图案，以保持玻璃面板之间的间隙、防止液晶漏出、并且密封玻璃面板之间的间隙。其后，在玻璃面板之间形成液晶层，从而完成液晶面板。

在上述过程中，测试具有TFT和像素电极的下玻璃面板(下文中称为“玻璃面板”)是否有缺陷的操作，是通过例如检测栅极线或数据线是否断开、或者检测像素单元是否显色不佳来实现的。

典型地，阵列测试装置用于测试玻璃面板。所述阵列测试装置包括光源、设置有电光材料层的调制器、和摄像单元。在预定强度的电压施加到调制器和玻璃面板的状态下，调制器接近玻璃面板。这样，如果玻璃面板没有缺陷，则调制器与玻璃面板之间形成电场。然而，如果玻璃面板有缺陷，则调制器与玻璃面板之间不形成电场、或电场具有低强度。阵列测试装置测量调制器与玻璃面板之间的电场强度，并且利用所测得的电场强度来确定玻璃面板是否有缺陷。

在将玻璃面板放置在支撑板上之后对玻璃面板进行测试。为此，支撑板中形成有多个连接至负压源的吸气孔。玻璃面板通过经由吸气孔抽吸空气而吸附和紧固到支撑板上。然而，在传统技术中，因为空气同时被吸入多个吸气孔中，所以玻璃面板邻近吸气孔的区域被可靠地吸附和附着在支撑板上，但是在玻璃面板的除了邻近吸气孔的区域外的区域中，在玻璃面板附着在支撑板之前空气可能无法经由吸气孔排出，因此在玻璃面板与支撑板的上表面之间形成了不希望的空气层。空气层使玻璃面板的上表面的高度不一致。其结果是，存在玻璃面板不能被正确测试的问题。

发明内容

因此，针对以上在现有技术中所产生的问题提出本发明，并且本发明的目的是提供一种阵列测试装置，所述阵列测试装置构造为使得当玻璃面板吸附在支撑板上时防止在玻璃面板与支撑板之间形成空气层，以便可以正确地测试玻璃面板。

为了实现以上目的，本发明提供一种阵列测试装置，包括：支撑板，支撑板具有测试部分，玻璃面板的目标部分附着于测试部分，且在支撑板中位于测试部分的两侧形成有多个吸气孔，其中，在支撑板的测试部分的面向玻璃面板的表面中形成有多个吸附槽，每个吸附槽与吸气孔中的至少一个相连通。

在根据本发明的阵列测试装置中，在附着有玻璃面板的目标区域的支撑板的测试部分中形成有与吸气孔相连通的吸附槽。因此，当玻璃面板吸附在支撑板上时，玻璃面板的目标区域与支撑板的测试部分之间存在的空气可以经由吸附槽排出。因此，本发明可以防止在玻璃面板与支撑板之间形成空气层，因而可靠地保持玻璃面板的上表面水平。其结果是，可以正确地测试玻璃面板。

此外，在根据本发明的阵列测试装置中，玻璃面板不但可以吸附在具有吸气孔的吸附部分上，还可以吸附在具有吸附槽的测试部分上。因此，玻璃面板可以更可靠地支撑在支撑板上，以便可以更可靠并正确地进行玻璃面板的测试。

附图说明

由以下结合附图的详细描述，可以更加清晰地理解本发明前述的和其它的目的、特征和优点，其中：

图1是图示根据本发明的阵列测试装置的立体图；

图2是示出图1的阵列测试装置的测试模块的示意图；

图3是示出图1的阵列测试装置的测试模块的另一示例的示意图；

图4是示出图1的阵列测试装置的支撑板的立体图；

图5是示出图1的阵列测试装置的支撑板的另一示例的立体图；以及

图6是示出在图1的阵列测试装置的支撑板中形成的吸附槽的剖视图。