[发明专利]一种盲检校验方法以及相关装置

权利要求书

1.一种盲检校验方法，其特征在于，包括：

获取译码后的N位下行控制信息；

对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；

对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；

将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果的过程，包括：

建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述M为16。

4.一种盲检校验方法，其特征在于，包括：

获取译码后的N位下行控制信息；

对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M大于1的整数，所述N大于M；

对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果；

将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果的过程，包括：

建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

6.一种盲检校验装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取译码后的N位下行控制信息；

校验单元，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；

加掩单元，用于对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；

对比单元，用于将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述校验单元包括：

电路建立模块，用于建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

输入校验模块，用于将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

8.一种盲检校验装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取译码后的N位下行控制信息；

校验单元，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；

解掩单元，用于对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果；

盲检判断单元，用于将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述校验单元包括：

电路建立模块，用于建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

输入校验模块，用于将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。