[发明专利]硬件控制的过温保护终端

说明书

技术领域

本发明涉及一种过温保护终端，特别是涉及一种硬件控制过温保护终端。

背景技术

随着大规模集成电路的产生和发展，散热和集成电路的可靠性问题越来越受到人们的关注。因为集成电路要求运算速度越来越快，频率也越来越高，这样就不可避免的产生大量的热损耗；况且集成电路的电阻、电容及其晶体管等元件的参数受温度影响很大，如果不能很好的对系统温度进行控制，系统将无法正常高效地工作。

大量的研究关注于系统工作时温度控制问题，很少有关于温度超出可控范围后如何对系统进行保护方面的研究，特别是一些大规模集成电路系统或一些产热量比较大的机电装置，一旦温度过高就可能将系统损毁，导致很大的经济损失并造成不必要的麻烦。因此一种硬件控制过温保护终端的研究就显得尤为必要了。

发明内容

本发明是为了克服现有技术中的一些电路无法在系统温度超出正常温度范围时对系统进行及时有效保护的缺陷，提供一种具有探测系统温度，并将温度信息转化成高低电压信号，进而对系统进行及时保护的硬件控制的过温保护终端。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：

一种硬件控制的过温保护终端，其特点在于，该硬件控制的过温保护终端包括：

一温度检测单元，用于检测一待测系统的温度，并将检测到的所述待测系统的温度转化成一电压信号；

一DC-DC电源芯片，用于给所述待测系统供电；

一控制单元，用于接收所述温度检测单元输出的所述电压信号并控制是否给所述待测系统供电；

其中所述温度检测单元、所述控制单元以及所述DC-DC电源芯片依次连接。

较佳地，该温度检测单元为：一第一PTC热敏电阻的一端与一电源相连接，该第一PTC热敏电阻的另一端通过一第六电阻与地相连接，还通过一第二电容与地相连接，又通过一第五电阻与一运算放大器的一同相输入端连接，该运算放大器的一输出端与该温度检测单元的一第一输出端相连接，一第四电阻跨接于所述运算放大器的所述同相输入端与所述运算放大器的所述输出端，一第三电阻的一端与一电源相连，该第三电阻的另一端与所述温度检测单元电路的所述第一输出端相连，一第一电阻的一端与所述电源相连，该第一电阻的另一端通过一第二电阻接地，所述运算放大器的一反相输入端连接于所述第一电阻与所述第二电阻之间，一第一电容与所述第二电阻相并联。

较佳地，该温度检测单元为：一第十三电阻的一端与一电源相连接，所述第十三电阻的另一端通过一第二PTC热敏电阻与地相连接，还通过一第四电容与地相连接，又通过一第七电阻与一运算放大器的一反相输入端连接，该运算放大器的一同相输入端通过一第八电阻与一第三电容的一端相连，该第三电容另一端接地，所述运算放大器的一输出端与一第十电阻的一端相连接，该第十电阻的另一端与所述温度检测单元的一第二输出端相连，所述运算放大器的所述同相输入端通过一第九电阻与所述温度检测单元的所述第二输出端相连，一第十一电阻的一端与一电源相连，该第十一电阻的另一端通过一第十二电阻接地，两个稳压管均具有一阴极，所述两个稳压管的所述阴极相连组成一电压限幅元件，该电压限幅元件一端与所述温度检测单元电路的所述第二输出端相连，所述电压限幅元件另一端连接于所述第十一电阻与所述第十二电阻之间。

较佳地，所述温度检测单元由一PTC热敏电阻检测部分与一滞回电压比较器及其一滤波功能电路组成，所述PTC热敏电阻检测部分、滞回电压比较器及其滤波功能电路依次连接。

较佳地，所述控制单元为一N沟道型MOS管，该N沟道型MOS管的一栅极连接于所述温度检测单元电路的一第二输出端，该N沟道型MOS管的一源极与地相连接，该N沟道型MOS管的一漏极连接在DC-DC电源芯片的一使能端。

本发明的积极进步效果在于：

本发明提出了一种纯硬件的过温保护控制终端，当温度超过预设定极限值的时候，该硬件控制的过温保护终端将直接关断系统的总电源，对系统硬件进行保护；当温度恢复到合理的范围后，再自动打开电源使系统可以顺利有效的工作。因此解决了由于温度过高时不能及时对系统进行保护而导致待测系统损坏和失效的问题，延长了系统的使用寿命。

附图说明

图1为本发明的硬件控制过温保护终端的模块图。

图2为本发明的硬件控制过温保护终端的较佳实施例的温度检测单元电路图。

图3为本发明的硬件控制过温保护终端的较佳实施例的温度电压传输特性图。

图4为本发明的硬件控制过温保护终端的较佳实施例的控制单元电路图。