[发明专利]一种线偏振光磁光效应检测方法及其装置

权利要求书

1.一种线偏振光磁光效应检测方法，包括以下步骤：

1)设置偏振棱镜，使被检线偏振光入射至偏振棱镜通光孔并出射至光电 探测器；

2)调节偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴在与偏振 光入射方向垂直的平面内成90°夹角，记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面 内a位置；

3)水平转动偏振棱镜90°，再根据光电探测器的输出信号，水平微调偏 振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴成0°或180°夹角，记此 时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内b位置，并记录此时的角度值；

4)多次操作步骤2)和3)；

5)根据多组所述测量角度值，统计计算得出被检线偏振光光轴的稳定度。

2.根据权利要求1所述的线偏振光磁光效应检测方法，其特征在于：步骤 3)得出与b位置相对应的角度值为x_i；步骤4)重复操作n次步骤2)和3)； 步骤5)所述统计计算是根据以下公式

δ=Σi=1n(xi-x‾)2n-1]]>

计算得到被检线偏振光光轴的稳定度δ。

3.一种线偏振光磁光效应检测方法，包括以下步骤：

1)设置偏振棱镜，使被检线偏振光入射至偏振棱镜通光孔并出射至光电 探测器；

2)调节偏振棱镜，使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴在与偏振 光入射方向垂直的平面内成45°夹角，测得此位置下光电探测器检测到的信号 光强度最大值I_max和最小值I_min；

3)被检经过磁光调制线偏振光的磁光调制深度根据以下公式计算得到；

η＝(I_max-I_min)/(I_max+I_min)

4)根据步骤3)得到的磁光调制深度η的值，计算得到磁光调制的调制角 幅度为：

θ＝(arcsinη)/2。

4.一种线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于：包括在入射光路上依次 设置的通光孔、偏振棱镜、聚光透镜以及光电探测器和用以带动偏振棱镜水平 旋转的旋转机构；所述旋转机构上设置有用以测试偏振棱镜水平旋转角度的测 角码盘。

5.根据权利要求4所述的线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于：所述 偏振棱镜、聚光透镜和光电探测器置于一个密封的仪器罩内，所述光电探测器 固定于该仪器罩内的底面上；所述旋转机构分为上、下两个部分，其中下部包 括安装于检测装置的基座上作为动力输出的精密旋转轴和微调旋钮以及锁紧旋 钮，上部伸入所述仪器罩内形成旋转架，所述偏振棱镜和聚光透镜依次位于该 旋转架的中轴线上且以压圈方式固定。

6.根据权利要求5所述的线偏振光磁光效应检测装置，其特征在于：所述 偏振棱镜、聚光透镜置于一个偏振棱镜座上，偏振棱镜通过石膏进行固定，聚 光透镜通过压圈进行固定，压圈与偏振棱镜座螺纹连接；偏振棱镜座通过螺钉 固定于仪器罩内的底面上。