[发明专利]基于纳米柱阵列的光电器件及其制作方法有效
| 申请号: | 201110235828.1 | 申请日: | 2011-08-17 |
| 公开(公告)号: | CN102254969A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
| 发明(设计)人: | 张东炎;郑新和;李雪飞;董建荣;杨辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/04;H01L31/18 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 纳米 阵列 光电 器件 及其 制作方法 | ||
1.一种基于纳米柱阵列结构的光电器件,包括表面具有纳米柱阵列结构的n型或p型半导体层(403),其特征在于:所述纳米柱阵列上依次生长有垂直结构有源区(402)和横向连续无裂痕的p型或n型区(401),所述p型或n型区(401)上覆设电流扩展层(406),同时,所述n型或p型半导体层(403)和电流扩展层(406)上还分别设有电极。
2.根据权利要求1所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件,其特征在于:所述纳米柱阵列结构中还填充有填充物(405),所述填充物至少选自光刻胶、聚酰亚胺和旋涂玻璃中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件,其特征在于:所述n型或p型半导体层(403)和电流扩展层(406)表面上还分别设有金属接触电极。
4.根据权利要求1或3所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件,其特征在于:所述n型或p型半导体层(403)设于衬底(404)表面。
5.一种基于纳米柱阵列结构的光电器件的制作方法,其特征在于,该方法为:
首先,对形成于n型或者p型半导体层上的纳米柱阵列模板进行填充、平面化,使各纳米柱顶部露出;
而后,依次在该纳米柱阵列上外延生长垂直结构有源区和连续无裂痕p型或者n型区,并在p型或者n型区上制作电流扩展层;
最后,在n型或p型半导体层和电流扩展层上还分别制作形成金属接触电极。
6.根据权利要求5所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件的制作方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
I、在n型或者p型半导体层表面制作微结构,并进行刻蚀形成具有垂直取向的纳米柱阵列;
II、对纳米柱阵列模板进行填充、平面化,使各纳米柱顶部露出;
III、采用垂直纵向生长为主导的生长模式外延生长垂直结构有源区;
IV、采用水平横向生长为主导的生长模式外延生长连续无裂痕p型或者n型区;
V、制作电流扩展层以及n型和p型区金属接触电极。
7.根据权利要求6所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件的制作方法,其特征在于,步骤I中所述微结构掩膜层的制作方法至少选自自组装形成金属微球的方法和旋涂单层微粒法。
8.根据权利要求6所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件的制作方法,其特征在于,步骤II具体为:采用填充物对纳米柱阵列进行旋涂填充,并采用干法刻蚀或者抛光去掉多余的填充物使之形成一平整面,并使各纳米柱顶部露出;
所述填充物至少选自光刻胶、聚酰亚胺和旋涂玻璃中的任意一种。
9.根据权利要求6所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件的制作方法,其特征在于,步骤III中所述垂直纵向生长为主导的生长模式是指沿轴向的外延生长速率远大于径向的生长速率。
10.根据权利要求6所述的基于纳米柱阵列结构的光电器件的制作方法,其特征在于,步骤IV中水平横向生长为主导的生长模式是指外延生长沿着纳米柱径向的生长速率大于轴向方向的生长速率。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





