[发明专利]I-V二阶微分测量方法及装置

权利要求书

1.一种I-V二阶微分测量方法，其特征在于，该方法为：将具有选定频率的交流信号通过具有分压作用的交直流加法器分压后，再与直流偏压叠加，并共同作用于测试样品，获得含有测试样品信息的信号，该含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，并通过锁相放大器改变参考通道的频率，由锁相放大器测量该倍频信号电压，从而获得二次谐波的有效信号电压，也就是I-V二阶微分的有效信号。

2.如权利要求1所述的I-V二阶微分测量方法，其特征在于：该方法中是采用函数发生器产生交流信号，并通过锁相放大器改变参考通道的频率，从而获得二次谐波的电压信号，即，I-V二阶微分的有效信号。

3.如权利要求1所述的I-V二阶微分测量方法，其特征在于：该方法中还通过环境条件控制系统改变环境条件，并测量I-V二阶微分，从而获得I-V二阶微分随外界环境条件的变化曲线。

4.如权利要求1所述的I-V二阶微分测量方法，其特征在于：所述交直流加法器包括电感（13）、第一电阻（10）、第二电阻（11）和电容（14），所述电感（13）一端与直流信号输入端口（12）连接，另一端与电容（14）一端和输出端口（15）连接，电容（14）另一端分别与第一电阻（10）和第二电阻（11）一端连接，第一电阻（10）另一端与交流信号输入端口（9）连接，第二电阻（11）另一端接地。

5.一种I-V二阶微分测量装置，其特征在于，它包括一具有分压作用的交直流加法器（2），该交直流加法器（2）的交流信号输入端口和直流信号输入端口分别与函数发生器（1）和直流信号源（3）连接，其输出端口与样品（4）、前置放大器（5）和锁相放大器（6）依次串接，所述锁相放大器（6）经参考通道（7）与函数发生器（1）连接。

6.根据权利要求5所述的I-V二阶微分测量装置，其特征在于：所述交直流加法器包括电感（13）、第一电阻（10）、第二电阻（11）和电容（14），所述电感（13）一端与直流信号输入端口（12）连接，另一端与电容（14）一端和输出端口（15）连接，电容（14）另一端分别与第一电阻（10）和第二电阻（11）一端连接，第一电阻（10）另一端与交流信号输入端口（9）连接，第二电阻（11）另一端接地。

7.根据权利要求5所述的I-V二阶微分测量装置，其特征在于：它还包括用于改变样品所处环境条件的环境条件控制系统。