[发明专利]利用近距离传感器检测目标的方法有效

专利信息
申请号: 201110222991.4 申请日: 2011-08-04
公开(公告)号: CN102410846A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: M·泰西耶;C·特罗伊塞 申请(专利权)人: ST微电子(鲁塞)有限公司
主分类号: G01D3/028 分类号: G01D3/028;G06F3/041
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要:
搜索关键词: 利用 近距离 传感器 检测 目标 方法
【权利要求书】:

1.一种通过由近距离传感器(10)提供的检测信号(Sd)检测目标的方法,检测信号具有根据所检测目标的接近度而分别增加或减少的值,该方法包括以下步骤:

通过对检测信号(Sd)的值进行滤波产生参考信号(Sr),

定义与参考信号(Sr)相关的第一检测阈值(Th1),以及

当检测信号(Sd)的值变为分别大于或小于第一检测阈值(Th1)时,从目标非检测状态(NDET)变为目标检测状态(DET),

其特征在于其包括以下步骤:

当检测信号的值变为分别大于或小于第一检测阈值(Th1)时,以使得检测信号(Sd)的值再次变为分别小于或大于第一检测阈值(Th1)的方式,重新调整参考信号(Sr)的值。

2.根据权利要求1所述的方法,包括以下步骤:在目标检测状态(DET)中,当检测信号的值再次变为分别大于或小于第一检测阈值(Th1)时,以使得检测信号(Sd)的值再次变为分别小于或大于第一检测阈值(Th1)的方式,再次重新调整参考信号(Sr)的值。

3.根据权利要求1和2中的一项所述的方法,包括以下步骤:

定义与参考信号(Sr)相关的第二检测阈值(Th2),

当检测信号的值变为分别小于或大于第二检测阈值(Th2)时,从目标检测状态(DET)变成目标非检测状态(NDET),以及

当检测信号的值变为分别小于或大于第二检测阈值(Th2)时,重新调整参考信号(Sr)的值,从而检测信号(Sd)的值再次变为分别大于或小于第二检测阈值(Th2)。

4.根据权利要求3所述的方法,包括以下步骤:在目标非检测状态(NDET),当检测信号的值再次变为分别小于或大于第二检测阈值(Th2)时,再次重新调整参考信号(Sr)的值,从而检测信号(Sd)的值再次变为分别大于或小于第二检测阈值(Th2),而不修改非检测状态。

5.根据权利要求3和4中的一项所述的方法,其中第二检测阈值(Th2)分别等于从参考信号(Sr)的值减去偏离量(OF2),或者等于参考信号(Sr)的值加上偏离量(OF2)。

6.根据权利要求1至5中的一项所述的方法,其中第一检测阈值(Th1)分别等于参考信号(Sr)的值加上偏离量(OF1),或者等于参考信号(Sr)的值减去偏离量(OF1)。

7.根据权利要求1至6中的一项所述的方法,其中执行参考信号(Sr)的值的重新调整,从而使检测信号(Sd)的值实质上等于参考信号(Sr)的值,参考信号(Sr)的值具有小于在重新调整的参考信号(Sr)的值和检测阈值(Th1,Th2)之间的差(OF1,OF2)的最大偏差,它们的交叉导致参考信号的重新调整。

8.根据权利要求1至7中的一项所述的方法,其中在检测信号的值变为大于或小于阈值(Th1,Th2)的时刻之后,从检测信号(Sd)的值执行参考信号(Sr)的值的重新调整。

9.根据权利要求1至8中的一项所述的方法,其中检测信号的值是幅度、频率、相位、持续时间、或数量。

10.根据权利要求1至9中的一项所述的方法,其中从目标检测状态(DET)变成目标非检测状态(NDET)的步骤包括修改状态寄存器或状态信号(ST)的值的步骤,反之亦然。

11.根据权利要求1至10中的一项所述的方法,其中检测目标是人体的一部分。

12.根据权利要求1至11中的一项所述的方法,其中检测信号(Sd)由电容近距离传感器所提供的。

13.一种计算机程序产品,包括存储在支撑件上实现权利要求1至10中的一项的方法的可执行代码。

14.一种近距离检测器(DV2)包括:

近距离传感器(10,11),用于当目标接近或接触传感器时,提供具有分别增加或减小的值的检测信号(Sd),

微处理器或硬线型的处理单元(SPU2),用于接收检测信号(Sd),

其特征在于,处理单元(SPU2)配置为实现权利要求1至10中的一项的方法。

15.一种具有至少一个能够被激活或被去激活的元件的便携式设备(HD),其特征在于其包括至少一个根据权利要求14的检测器(10,10’,PROC),以及其中检测器被配置为在设备的附近检测到目标时激活或去激活该元件。

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