[发明专利]试卷质量的检测指标的图像化系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及试卷测评技术领域，特别涉及一种试卷质量的检测指标的图像化系统和方法。

背景技术

试卷质量的的好坏是对教学测试的反思：既是对教师教的反思、也是对学生学的反思，因此，对试卷质量的评定是提高命题水平必不可少的一个环节。

现有技术中评判试卷质量的方法通常只是评定试卷的难易程度：客观题难度计算公式：P1（客观题难度指数）＝试题答对人数/考生人数；主观题难度计算公式：P2（主观题难度指数）＝试题平均得分/试题满分。易、中、难的标准为：易：P（包括P1和P2）≥0.7，中：0.4≤P≤0.69，难：P≤0.39；P值越大，难度越低，P值越小，难度越高。一般来说，难度值平均在0.5最佳，难度值过高或过低，都会降低测验的信度。然而，这种做法只能从一定反映出试卷的质量，无法更好地通过更多的数据客观地表达出试卷的准确性和稳定性，而且不能使人直观地看出评定结果，很难给今后的教学和命题带来更多的启示。

有鉴于此，需要提供一种新的试卷质量的检测技术。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种试卷质量的检测指标的图像化系统和方法，以解决现有技术的试卷评定机制只能简单地评定试卷的难易程度、区分度等，不能客观表达出试卷的准确性和稳定性的问题。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种试卷质量的检测指标的图像化系统，其中，包括：

采集单元，用于采集评卷员对于试卷的评定信息；

统计单元，用于根据评定信息制定S-P表；

曲线拟合单元，用于根据S-P表的数据绘制出试卷评分P曲线；

测评单元，用于根据试卷评分S曲线算出试卷注意系数CJ以及试卷的自身一致性系数P2；

绘图单元，用于根据试卷注意系数CJ以及试卷的自身一致性系数P2描绘得到试卷质量的检测指标的图像。

所述的试卷质量的检测指标的图像化系统，其中，所述采集单元中试卷的评定信息具体为：若评卷员对试卷的试题认可，则记为1；反之则记为0。

所述的试卷质量的检测指标的图像化系统，其中，所述测评单元中评分员注意系数CJ=（K1*K2）/K3-N1*N2,其中，K1为试卷评分P曲线上侧为0的评卷员的总分之和，K2为试卷评分P曲线下侧为1的评卷员的总分之和，K3为试卷评分P曲线上侧的试卷的试题的总分之和，N1为试卷的试题的总分，N2为平均正答数。

所述的试卷质量的检测指标的图像化方法，其中，所述测评单元中试卷的自身一致性系数P2=(P1-P3)/(1-P3)；

其中，P1=（A+D）/（A+B+C+D），P3=（A+B）/（A+B+C+D）*（A+C）/（A+B+C+D）+（C+D）/（A+B+C+D）*（B+D）/（A+B+C+D）；

所述A为1时，表示评卷员对试题的评定结果与自己正常水平的评定结果一致且与标准评定信息也一致，否则为0；B为1时，表示与自己正常水平的评定结果不一致且与标准评定信息一致，否则为0；C为1时，表示与自己正常水平的评定结果一致且与标准评定信息不一致，否则为0；D为1时，表示与自己正常水平的评定结果不一致且与标准评定信息也不一致，否则为0。

一种试卷质量的检测指标的图像化方法，其中，所述方法包括以下步骤：

S1、采集评卷员对于试卷的评定信息；

S2、根据评定信息制定S-P表；

S3、根据S-P表的数据绘制出试卷评分P曲线；

S4、根据试卷评分P曲线算出试卷注意系数CJ；

S5、计算出试卷的自身一致性系数P2；

S6、根据试卷注意系数CJ和试卷的自身一致性系数P2描绘得到试卷质量的检测指标的图像。

所述的试卷质量的检测指标的图像化方法，其中，所述步骤S1中试卷的评定信息具体为，若评卷员对试卷的试题认可，则记为1；反之则记为0。

所述的试卷质量的检测指标的图像化方法，其中，所述步骤S4中评分员注意系数CJ=（K1*K2）/K3-N1*N2,其中，K1为试卷评分P曲线上侧为0的评卷员的总分之和，K2为试卷评分P曲线下侧为1的评卷员的总分之和，K3为试卷评分P曲线上侧的试卷的试题的总分之和，N1为试卷的试题的总分，N2为平均正答数。

所述的试卷质量的检测指标的图像化方法，其中，所述步骤S5中试卷的自身一致性系数P2=(P1-P3)/(1-P3)；