[发明专利]自动测试装置、自动测试系统及其自动测试控制的方法有效

专利信息
申请号: 201110220728.1 申请日: 2011-08-03
公开(公告)号: CN102914704A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 吴仕平;王昌浩 申请(专利权)人: 纬创资通股份有限公司;纬创资通(昆山)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G06F11/267;G05B19/04
代理公司: 北京嘉和天工知识产权代理事务所(普通合伙) 11269 代理人: 严慎
地址: 中国台湾新北市汐*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 自动 测试 装置 系统 及其 控制 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种自动测试装置、自动测试系统及其自动测试控制的方法,特别是一种可以自动化测试待测装置,以及自动化记录测试历程的自动测试装置、自动测试系统及其自动测试控制的方法。

背景技术

随着时代的进步,现今的生活里已经出现各式各样的电子产品,其可具有多样性且不同用途的连接端口,例如分别适用于USB、网络连接器端子、音频端子(Audio Jack)、影像端子、HDMI或是IEEE 1394等众多规格的连接端口。使用者在使用这些电子产品时,都会对连接端口进行多次的插拔动作。因此测试连接端口在多次插拔下的耐久度是各电子产品制造商的重要课题。在先前技术中,通常是藉由测试人员手动插拔的方式,来对连接端口进行耐久度的测试。但此种方式过于耗费人力,且并不符合经济效益。

先前技术的测试装置可利用气动方式自动对待测物体执行插拔测试。但先前技术的测试装置虽可对待测物体达到自动测试的效果,但仍需要对测试单元进行拆解再安装的步骤,才能调整测试单元的位置与高度,因此测试单元的调整方式过于复杂。同时先前技术的测试装置无法由一计算机系统自动发送命令与自动记录下控制过程,仍然需要由测试人员分别执行命令。如此一来,仍会消耗部分无谓的人力。

因此,有必要发明一种自动测试装置、自动测试系统及其自动测试控制的方法,以藉由更方便且更自动化的方式来进行测试,以解决先前技术的缺失。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种自动测试装置,其具有可以自动化测试待测装置的效果。

本发明的另一主要目的在于提供一种自动测试系统,其具有自动化记录测试历程的效果。

本发明的又一主要目的在于提供一种用于上述自动测试装置及自动测试系统的自动测试控制的方法。

为达到上述的目的,本发明的自动测试装置接收一控制信号以测试一待测装置的一连接端口的耐久度,该自动测试装置包括:一测试平台、一测试单元以及一动力控制单元;该测试平台用以设置该待测装置;该测试单元包括:一主体、一组装单元以及一高度调节单元;该组装单元接触于该主体,用以安装一测试接头,该测试接头配合该连接端口的规格;该高度调节单元连接于该主体并与该组装单元互相配合以调整该组装单元的一高度;该动力控制单元连接于该测试单元,该动力控制单元在接收该控制信号后,驱动该测试单元以藉由该测试接头对该连接端口进行测试。

本发明的自动测试系统用以测试一待测装置的一连接端口的耐久度,该自动测试系统包括:一计算机系统、一控制器以及一自动测试装置;该计算机系统产生一控制参数;该控制器与该计算机系统电性连接以接收该控制参数,该控制器包括:一缓冲模块以及一控制模块;该缓冲模块储存该控制参数;该控制模块与该缓冲模块电性连接,以根据该控制参数产生一控制信号;该自动测试装置与该控制器电性连接,用以接收该控制信号,该自动测试装置包括:一测试平台、一测试单元以及一动力控制单元;该测试平台用以设置该待测装置;该测试单元包括:一主体、一组装单元以及一高度调节单元;该组装单元连接于该主体,用以安装一测试接头,该测试接头配合该连接端口的规格;该高度调节单元连接于该主体并与该组装单元互相配合以调整该组装单元的一高度;该动力控制单元连接于该测试单元,该动力控制单元在接收该控制信号后,驱动该测试单元以藉由该测试接头对该连接端口进行测试,并经由该控制器以将一测试历程储存于该缓冲模块内,该计算机系统再读取该测试历程。

本发明的自动测试控制的方法用于一自动测试系统,该自动测试系统具有一自动测试装置,用以测试一待测装置的一连接端口的耐久度,该自动测试控制的方法包括以下步骤:藉由一计算机系统产生一控制参数;根据该控制参数以藉由一控制器产生一控制信号;根据该控制信号以藉由一动力控制单元驱动一测试单元,以自动对该连接端口进行测试;以及储存一测试过程。

本发明的自动测试控制的方法包括以下步骤:提供自动测试装置以设置待测装置;藉由计算机系统产生控制参数;根据控制参数以藉由控制器产生控制信号;根据控制信号以藉由动力控制单元驱动测试单元,以自动对连接端口进行测试;以及储存测试历程。

本发明能够完全自动化地对待测装置进行测试,并且也较容易根据不同待测装置的规格来进行调整,明显优于先前技术的测试装置。

附图说明

图1是本发明的自动测试系统的架构图。

图1A是本发明的控制器内的电路架构图。

图2A是本发明的自动测试装置的外观示意图。

图2B是本发明的自动测试装置结合待测装置的示意图。

图3是本发明的测试单元的结构示意图。

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