[发明专利]开关电路及使用开关电路的开关测试系统

权利要求书

1.一种开关电路，其特征在于，包括：

串接在测试电压源与测试点之间的第一开关和第二开关，第一开关和第二开关的控制端分别连接第一控制信号；

串接在第一开关和第二开关的公共端与地之间的第三开关，第三开关的控制端连接第二控制信号；

通过控制第一控制信号、第二控制信号使第一开关/第二开关与第三开关相反操作，且当第一开关和第二开关均截止时，第三开关导通接地。

2.根据权利要求1所述开关电路，其特征在于，第一开关、第二开关和第三开关均为光耦；

第一开关的控制端和第二开关的控制端相连、输入端连接测试电压源、输出端连接第二开关的输入端，而第二开关的输出端连接测试点；

第三开关的输出端接地、输入端串接一个限流电阻之后与第一开关的输出端连接。

3.根据权利要求1所述开关电路，其特征在于，第一开关、第二开关和第三开关均为MOS晶体管；

第一开关的源极连接测试电压源、漏极连接第二开关的源极、栅极的栅极与第二开关的栅极连接并串接偏压控制电路之后连接第一控制信号，而第二开关的漏极连接测试点；

第三开关的栅极连接第二控制信号、源极接地、漏极串接一个限流电阻之后与第一开关的漏极连接。

4.一种开关电路，其特征在于，包括：

串接在高侧测试电压源与测试点之间的高侧开关电路；

串接在低侧测试电压源与测试点之间的低侧开关电路；

分别用于控制高侧开关电路、低侧开关电路的高侧控制信号和低侧控制信号；

其中，高侧开关电路包括：串接在高侧测试电压源与测试点之间的第一高侧开关和第二高侧开关，第一高侧开关和第二高侧开关的控制端分别连接高侧控制信号；串接在第一高侧开关和第二高侧开关的公共端与地之间的第三高侧开关，第三高侧开关的控制端串接一个高侧反相器连接高侧测试电压源；当第一高侧开关和第二高侧开关均截止时，第三高侧开关导通接地；

其中，低侧开关电路包括：串接在低侧测试电压源与测试点之间的第一低侧开关和第二低侧开关，第一低侧开关和第二低侧开关的控制端分别连接低侧控制信号；串接在第一低侧开关和第二低侧开关的公共端与地之间的第三高侧开关，第三高侧开关的控制端串接一个低侧反相器连接低侧测试电压源；当第一低侧开关和第二低侧开关均截止时，第三低侧开关导通接地。

5.根据权利要求4所述开关电路，其特征在于，第一高侧开关、第二高侧开关和第三高侧开关均为光耦，第一高侧开关的控制端和第二高侧开关的控制端相连、输入端连接高侧测试电压源、输出端连接第二高侧开关的输入端，而第二高侧开关的输出端连接测试点，第三高侧开关的输出端接地、输入端串接一个限流电阻之后与第一高侧开关的输出端连接。

6.根据权利要求4所述开关电路，其特征在于，第一低侧开关、第二低侧开关和第三低侧开关均为光耦，第一低侧开关的控制端和第二低侧开关的控制端相连、输入端连接测试点、输出端连接第二低侧开关的输入端，而第二低侧开关的输出端连接低侧测试电压源，第三低侧开关的输出端接地、输入端串接一个限流电阻之后与第一低侧开关的输出端连接。

7.根据权利要求4所述开关电路，其特征在于，第一高侧开关、第二高侧开关和第三高侧开关均为MOS晶体管；

第一高侧开关的源极连接高侧测试电压源、漏极连接第二高侧开关的源极、栅极的栅极与第二高侧开关的栅极连接并串接高侧偏压控制电路之后连接高侧控制信号，而第二高侧开关的漏极连接测试点；

第三高侧开关的栅极连接高侧反相器的输出端、源极接地、漏极串接一个限流电阻之后与第一高侧开关的漏极连接。

8.根据权利要求4所述开关电路，其特征在于，第一低侧开关、第二低侧开关和第三低侧开关均为MOS晶体管；

第一低侧开关的源极与第二低侧开关的漏极连接、漏极连接测试点、栅极与第二低侧开关的栅极连接，而第二低侧开关的源极连接低侧测试电压源；

第一低侧开关的栅极与第二低侧开关的栅极均串接低侧偏压控制电路之后连接低侧控制信号，而第二低侧开关的漏极连接测试点；

第三低侧开关的栅极连接低侧反相器的输出端、源极接地、漏极串接一个限流电阻之后与第一低侧开关的源极连接。