[发明专利]具有氮化镓层的多层结构基板及其制法无效
申请号: | 201110212956.4 | 申请日: | 2011-07-26 |
公开(公告)号: | CN102456548A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 张翼;萧佑霖;吕荣淇 | 申请(专利权)人: | 财团法人交大思源基金会 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L29/06 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 氮化 多层 结构 及其 制法 | ||
1.一种具有氮化镓层的多层结构基板的制法,包括:
提供一衬底;
在所述衬底上形成网状层,所述网状层具有多个外露所述衬底的开孔;
在所述开孔内的衬底上形成缓冲层,所述缓冲层由多个氮化物层构成;
在所述缓冲层上依序形成三层不同铝浓度的氮化铝镓层,其中,底层氮化铝镓层的铝浓度大于中间层氮化铝镓层的铝浓度,所述中间层氮化铝镓层的铝浓度大于上层氮化铝镓层的铝浓度,且所述中间层氮化铝镓层在形成过程中随厚度增加而逐渐减少铝的比例;以及
在所述上层氮化铝镓层上形成氮化镓层。
2.根据权利要求1所述的具有氮化镓层的多层结构基板的制法,其中,所述衬底的材质为硅、蓝宝石、氮化镓、氧化锌或碳化硅,且所述网状层的材质为氮化硅。
3.根据权利要求2所述的具有氮化镓层的多层结构基板的制法,其中,形成所述网状层的方法包括:
在所述衬底上形成氮化硅层;
在所述氮化硅层上形成网状阻层;
去除未被所述网状阻层覆盖的所述氮化硅层,以形成所述网状层;以及
去除所述网状阻层。
4.根据权利要求1所述的具有氮化镓层的多层结构基板的制法,进一步包括在所述氮化镓层上形成顶层氮化铝镓层。
5.根据权利要求1所述的具有氮化镓层的多层结构基板的制法,其中,所述缓冲层为高温氮化物层/低温氮化物层/高温氮化物层,而所述高温氮化物层的形成温度为1000℃至1200℃,且所述低温氮化物层的形成温度为700℃至900℃。
6.根据权利要求1所述的具有氮化镓层的多层结构基板的制法,其中,所述氮化物层为氮化铝层、氮化镓层或氮化铝镓层。
7.一种具有氮化镓层的多层结构基板,包括:
衬底;
网状层,设于所述衬底上,所述网状层具有多个外露所述衬底的开孔;
缓冲层,设于所述开孔内的衬底上,所述缓冲层是由多个氮化物层所构成;
依序形成于所述缓冲层上的三层不同铝浓度的氮化铝镓层,其中,底层氮化铝镓层的铝浓度大于中间层的氮化铝镓层的铝浓度,所述中间层氮化铝镓层的铝浓度大于上层的氮化铝镓层的铝浓度,且所述中间层氮化铝镓层的铝浓度是由所述底层向上逐渐递减;以及
氮化镓层,设于所述上层氮化铝镓层上。
8.根据权利要求7所述的具有氮化镓层的多层结构基板,进一步包括顶层氮化铝镓层,设于所述氮化镓层上。
9.根据权利要求7所述的具有氮化镓层的多层结构基板,其中,所述衬底的材质为硅、蓝宝石、氮化镓、氧化锌或碳化硅,且所述网状层的材质为氮化硅,而所述氮化物层为氮化铝层、氮化镓层或氮化铝镓层。
10.根据权利要求7所述的具有氮化镓层的多层结构基板,其中,所述缓冲层为高温氮化物层/低温氮化物层/高温氮化物层,而所述高温氮化物层的形成温度为1000℃至1200℃,且所述低温氮化物层的形成温度为700℃至900℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造