[发明专利]测试信号传输线的方法及集成电路与显示面板模块有效
| 申请号: | 201110212300.2 | 申请日: | 2011-07-22 |
| 公开(公告)号: | CN102298891A | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
| 发明(设计)人: | 郑合顺;曾怡棻 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;王颖 |
| 地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 信号 传输线 方法 集成电路 显示 面板 模块 | ||
技术领域
本发明涉及一种用来测试面板上所连结的多个信号传输线的电性连接状态的方法,尤指一种利用制作于集成电路中的逻辑门群组来测试面板上多个信号传输线的电性连接状态的方法。
背景技术
在面板模块中,数字信号会由控制板产生,并经多个信号传输线将数字信号传送至面板上的驱动集成电路,然而,信号传输线上可能会有断路或是短路的情形发生,因此,在面板模块出厂前,需要进行测试以判断信号传输线是否正常。一般来说,通常需要通过实际的操作才能够判断信号传输线上是否有断路或是短路,然而,若是显示数据的数量过于庞大,则断路或是短路很难被发现,因此会无法确实检测出信号传输线的问题,而使得不良品流出至客户端。
发明内容
因此,本发明的目的之一在于提供一种用来测试一面板上所连结的多个信号传输线的电性连接状态的方法以及相关的集成电路与显示面板模块,以解决上述的问题。
依据本发明一实施例,一集成电路包含有多个接点、一逻辑门群组以及一输出单元。该多个接点分别连接至多个外部信号传输线;该逻辑门群组具有多个输入端,其于一测试模式下分别耦接于该多个接点;该输出单元耦接于该逻辑门群组的至少一输出端,且用来依据该逻辑门群组的至少一输出信号以产生至少一测试结果信号,并将该至少一测试结果信号传送至该集成电路的一输出端,以供判断该多个外部信号传输线的电性连接状态。
依据本发明另一实施例,一显示面板模块包含有一面板以及一集成电路,其中该面板上连结有多个信号传输线,且该集成电路包含有多个接点、一逻辑门群组以及一输出单元。该多个接点分别连接至多个信号传输线;该逻辑门群 组具有多个输入端,其于一测试模式下分别耦接于该多个接点;该输出单元耦接于该逻辑门群组的至少一输出端,且用来依据该逻辑门群组的至少一输出信号以产生至少一测试结果信号,并将该至少一测试结果信号传送至该集成电路的一输出端,以供判断该多个信号传输线的电性连接状态。
依据本发明另一实施例,一种用来测试一面板上所连结的多个信号传输线的电性连接状态的方法,包含有:提供一集成电路,其中该集成电路包含有:多个接点,分别连接至多个信号传输线;一逻辑门群组,具有多个输入端,其于一测试模式下分别耦接于该多个接点;以及一输出单元,耦接于该逻辑门群组的至少一输出端,用来依据该逻辑门群组的至少一输出信号以产生至少一测试结果信号,并将该至少一测试结果信号传送至该集成电路的一输出端,以供判断该多个信号传输线的电性连接状态;以及于一测试模式之下:将该逻辑门群组的该多个输入端分别耦接于该多个接点;将一第一组测试信号输入至该多个信号传输线;在该第一测试信号输入至该多个信号传输线之后,测量该集成电路的该输出端以得到一第一测试结果;将一第二组测试信号输入至该多个信号传输线;于该第二测试信号输入至该多个信号传输线之后,测量该集成电路的该输出端以得到一第二测试结果;以及依据该第一测试结果以及该第二测试结果以判断该多个信号传输线的电性连接状态。
本发明的有益效果在于通过设置于驱动集成电路中的一逻辑门群组来判断信号传输线的电性连接状态,可以很简单的进行测试且仅需要很短的测试时间,从而便于生产线操作,且不需要额外的检测设备,可以降低测试成本。
附图说明
图1为依据本发明一实施例的显示面板模块的示意图;
图2为依据本发明一第一实施例的驱动集成电路的示意图;
图3(A)与图3(B)为信号传输线发生断路以及短路的示意图;
图4为当信号传输线发生如图3(A)与图3(B)的断路以及短路情形时,驱动集成电路所接收到的数字信号的示意图;
图5为依据本发明一第二实施例的驱动集成电路的示意图。
其中,附图标记
100显示面板模块 120、200、500驱动集成电路
130软性电路板 210、510多路复用器
220、520逻辑门群组
222、224、226、228、522、524、526、528异或门
229或门 230、530输出单元
532、534、536、538输出子单元 P1~PM接点
L1~LM信号传输线 DB0~DBN数字信号
具体实施方式
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