[发明专利]感测装置以及电子设备有效
申请号: | 201110212079.0 | 申请日: | 2011-07-27 |
公开(公告)号: | CN102346050A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 茅野岳人 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 以及 电子设备 | ||
技术领域
本发明涉及感测装置以及电子设备。
背景技术
近年来,已开发出了多种传感器,并将它们搭载于各种系统和电子设备中。例如,可举出使用搭载了加速度传感器、陀螺仪传感器、地磁传感器、温度传感器等的感测装置来检测物体姿势的系统等。
一般的感测装置由包含多个传感器的传感器模块、微型计算机、ROM、RAM等构成。在ROM中写入针对各传感器的参数(例如对传感器特性所引起的检测误差进行校正的校正参数等),例如,在电源接通后的启动时等的初始化动作时,微型计算机从ROM中读出参数而写入RAM中。然后,微型计算机使用写入RAM中的参数,高速进行与各传感器相关联的各种处理(例如对传感器特性所引起的检测误差进行校正的处理等)。
【专利文献1】日本特开2009-134071号公报
但是,写入RAM中的参数可能会被噪声等破坏,当参数被破坏后,有时会在此后的感测装置的动作中发生问题。例如,当写入RAM中的校正参数被破坏后,有时会进行错误的校正处理,导致感测装置性能的劣化。
发明内容
本发明是鉴于以上问题而完成的,根据本发明的若干个方式,可提供能够降低因参数的破坏引起的性能劣化的感测装置以及电子设备。
(1)本发明提供一种感测装置,该感测装置包含:传感器;非易失性的第1存储器,其存储有与所述传感器相关联的参数;第2存储器;存储器控制部,其在从所述第1存储器中读出所述参数而写入所述第2存储器中之后,按照给定的定时,执行从所述第1存储器中读出所述参数而改写所述第2存储器的刷新处理;以及处理部,其根据写入所述第2存储器中的所述参数,进行所述传感器的信号处理。
与传感器相关联的参数例如是用于对传感器的偏移(零点偏移)进行校正的参数、用于对传感器的温度特性所引起的检测误差进行校正的参数等。
存储器控制部进行刷新处理的给定定时可以是定期的定时(固定周期),也可以是不定期的定时。
处理部进行的传感器的信号处理例如是根据参数对传感器的检测值进行校正的处理等。
根据本发明的感测装置,通过刷新处理,利用存储在第1存储器中的参数对写入第2存储器中的参数进行改写,所以,即使写入第2存储器中的参数被破坏,在下次刷新处理后,处理部也能够进行正常的处理。因此,根据本发明的感测装置,能够降低因参数的破坏引起的性能劣化。
例如,所述存储器控制部可以按照固定周期反复进行所述刷新处理。
这样,在写入第2存储器中的参数发生了数据破坏的情况下,能够将产生异常处理结果的期间收敛在刷新处理的一个周期以内。
(2)可以是,该感测装置还包含寄存器部,所述存储器控制部从所述寄存器部接受与所述刷新处理的周期有关的刷新周期信息,按照与该刷新周期信息对应的周期进行所述刷新处理。
这样,能够按照与感测装置的使用环境、要求精度等对应的恰当周期进行刷新处理。
(3)可以是,该感测装置还包含输出部,该输出部向外部输出来自所述处理部的输出数据,所述刷新处理的周期为外部装置对所述输出数据进行采样的周期以下。
这样,在写入第2存储器中的参数发生了数据破坏的情况下,能够将外部装置接受的异常数据限定为只有一个采样。
(4)可以是,在该感测装置中,所述存储器控制部将所述传感器的检测值与给定阈值进行比较,根据比较结果进行所述刷新处理。
例如,存储器控制部可以在传感器的检测值(或其绝对值)大于阈值的情况下(或者大于等于阈值的情况下),进行刷新处理,在传感器的检测值(或其绝对值)小于等于阈值的情况下(或者小于阈值的情况下),不进行刷新处理。相反,存储器控制部也可以在传感器的检测值(或其绝对值)小于阈值的情况下(或者小于等于阈值的情况下),进行刷新处理,在传感器的检测值(或其绝对值)大于等于阈值的情况下(或者大于阈值的情况下),不进行刷新处理。
这样,能够根据传感器的检测值对刷新处理的定时进行控制。例如,公认为在加速度传感器或角速度传感器等运动传感器的检测值比较大的情况下、即感测装置的移动量比较大的情况下,噪声也变大,所以,写入第2存储器中的参发生数据破坏的概率变高。因此,在运动传感器的检测值(或其绝对值)大于阈值的情况下(或者大于等于阈值的情况下),进行刷新处理,由此,能够降低因参数的破坏引起的性能劣化。
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