[发明专利]封框胶宽检测的方法、系统和设备有效

专利信息
申请号: 201110207489.6 申请日: 2011-07-22
公开(公告)号: CN102645763A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 文斌;李允石;曾小强 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G02F1/1339;G01B21/02
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 孔凡红
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 封框胶宽 检测 方法 系统 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种封框胶宽检测的方法、系统和设备。

背景技术

随着科技的进步,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)已经成为显示领域的主流产品,在生产工艺中通过将阵列(Array)基板和彩膜(CF)基板对盒可以形成液晶显示屏。

成盒工艺中,包括以下几个主要流程:封框胶涂布、固化、对位检测、切割工艺、封框胶宽检测。其中,封框胶涂布是指涂胶机在基板上涂布封框胶,以起到粘结和密封等作用;固化是指热固化炉通过加热等手段对封框胶进行硬化;对位检测是指对位检测机检查对盒的阵列基板和彩膜基板是否错位;切割工艺主要将对盒后的成品切割为多块;封框胶宽检测是指检测涂布的封框胶的胶宽。根据封框胶宽检测的时间不同,成盒工艺所包括的各流程的先后执行顺序可以分为以下两种:

第一,封框胶涂布、封框胶宽检测、固化、对位检测、切割工艺;这里的封框胶宽检测是在固化前进行的检测,称为封框胶湿宽检测;

封框胶湿宽检测在封框胶涂布后、进行固化前进行,可及时反馈结果,但由于检测时未进行固化,检测结果往往出现偏差。

第二,封框胶涂布、固化、对位检测、切割工艺、封框胶宽检测;这里的封框胶宽检测是在固化后进行的检测,称为封框胶干宽检测;

封框胶干宽检测在切割工艺后进行,检测结果准确,但由于检测时间较延后,不能及时反馈检测结果,往往会造成很大损失。

根据封框胶宽的检测结果发现问题时,可以将检测结果反馈到封框胶涂布设备,封框胶涂布设备进行相关参数的调整,从而解决产品不良等相关问题。

在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术中存在以下技术问题:

封框胶干宽检测在切割工艺后进行,由于检测时间较延后,不能及时得到检测结果,也就不能及时调整封框胶涂布设备,往往会造成很大损失。

发明内容

本发明实施例提供一种封框胶宽检测的方法、系统和设备,用于提高封框胶干宽检测的及时性。

一种封框胶宽检测的方法,该方法包括:

将封框胶涂布在基板上;

对涂布在基板上的封框胶进行固化处理;

检测固化处理后的封框胶的胶宽,并输出胶宽检测结果;

按照涂布在基板上的封框胶将所述基板进行切割。

一种封框胶宽检测的系统,该系统包括:

涂胶机,用于将封框胶涂布在基板上;

热固化炉,用于对涂布在基板上的封框胶进行固化处理;

对位检测机,用于检测固化处理后的封框胶的胶宽,并输出胶宽检测结果;

切割机,用于按照涂布在基板上的封框胶将所述基板进行切割。

一种对位检测机,该对位检测机包括:

检测单元,用于检测涂布在基板上、并进行固化处理后的封框胶的胶宽;

输出单元,用于输出胶宽检测结果。

本发明中,对涂布在基板上的封框胶进行固化处理后,检测固化处理后的封框胶的胶宽,并输出胶宽检测结果;然后按照涂布在基板上的封框胶将所述基板进行切割。可见,本发明在封框胶被固化处理后、基板被切割前进行封框胶干宽检测,与现有技术中在基板被切割后进行封框胶干宽检测相比,大大缩短了封框胶干宽检测的时延,有效提高了封框胶干宽检测的及时性。

附图说明

图1为本发明实施例提供的方法流程示意图;

图2A为本发明实施例中的影像装置移动路径示意图;

图2B和图2C为本发明实施例中的光亮度曲线示意图;

图3为本发明实施例提供的系统结构示意图;

图4为本发明实施例提供的设备结构示意图。

具体实施方式

为了提高封框胶干宽检测的及时性,本发明实施例提供一种封框胶宽检测的方法,本方法中,在将涂布在基板上的封框胶进行固化处理后,就进行封框胶干宽检测,然后再将基板进行切割。

参见图1,本发明实施例提供的封框胶宽检测的方法,具体包括以下步骤:

步骤10:将封框胶涂布在基板上;

步骤11:对涂布在基板上的封框胶进行固化处理;

步骤12:检测固化处理后的封框胶的胶宽,并输出胶宽检测结果;

步骤13:按照涂布在基板上的封框胶将所述基板进行切割。

步骤12中,检测固化处理后的封框胶的胶宽,其具体实现可以如下:

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