[发明专利]基于斜率、截距和相关系数的距离测度方法无效

专利信息
申请号: 201110207407.8 申请日: 2011-07-22
公开(公告)号: CN102306299A 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 徐小军;周国模;杜华强 申请(专利权)人: 浙江农林大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 周烽
地址: 311300 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 斜率 相关系数 距离 测度 方法
【权利要求书】:

1.一种基于斜率、截距和相关系数的距离侧度方法,其特征是按如下步骤进行:

(1)确定特征空间,提取参照集和目标集:

根据样地调查地理坐标,提取样地的特征空间并结合样地森林调查因子属性构建参照集,将整个研究区影像特征空间作为目标集;

(2)构造SICD距离测度:

a、计算参照集与目标集特征空间之间的线性回归方程:以目标集特征空间为自变量(y),参照集特征空间为因变量(x),通过最小二乘法建立目标集与每个参照集之间的回归方程:

yi,l=axj,l+b+ε                     [1]

其中:yi,l为第i个目标集第l个特征空间,xj,l为第j个参照集第l个特征空间,a和b分别为斜率和截距,ε为残差;

b、以三维空间点坐标表述SICD,即求[a,b,r]与[1,0,1]两点之间的空间欧氏距离,为了消除a、b、r之间的尺度问题,分别对其进行归一化处理,SICD计算公式:

SICDi,j=(ai,j-1)2Σj=1n(aij-1)2+(bi,j-0)2Σj=1n(bi,j-0)2+(ri,j-1)2Σj=1n(rij-1)2---[2]]]>

其中:ri,j为第i个目标集与第j个参照集的相关系数,n为参照集样本个数;

判断准则为:SICD越小,说明目标集与参照集样本越相似,反之,越不相似;

(3)SICD距离测度的应用:

计算目标集与参照集的SICD并对SICD排序,选取k个距离最短的参照集,以距离倒数计算权重,最后将权重乘以对应参照集并求和即得到估算结果。

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