[发明专利]镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201110202663.8 申请日: 2011-07-20
公开(公告)号: CN102329619A 公开(公告)日: 2012-01-25
发明(设计)人: 张科;梁广飞;王阳;吴谊群 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C09K11/88 分类号: C09K11/88;C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 离子 掺杂 锗锑碲 荧光 相变 信息 存储 材料 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料,其特征在于该材料的组成为Ge2Sb2Te5:0.1~0.3Ni2+,该材料是通过磁控溅射方法将Ge2Sb2Te5靶和NiO靶共溅在K9玻璃基片上的膜层,该膜层的厚度为100~250nm。

2.权利要求1所述的镍离子掺杂锗锑碲荧光相变信息存储材料的制备方法,其特征在于该方法是:利用磁控溅射设备,在真空度为3.0~5.0×10-4Pa的条件下, 在清洁的K9玻璃基片上共溅射NiO和Ge2Sb2Te5,NiO靶和Ge2Sb2Te5靶的溅射功率分别为7w~15w和70w~150w,共溅膜层的厚度为100~250nm。

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