[发明专利]一种制备Ge纳米管的方法无效
申请号: | 201110202585.1 | 申请日: | 2011-07-19 |
公开(公告)号: | CN102260905A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 翟继卫;尚飞;沈波 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | C30B23/00 | 分类号: | C30B23/00;C30B29/08;C30B29/46;C30B29/62 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 许亦琳;余明伟 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 ge 纳米 方法 | ||
1.一种制备Ge纳米管的方法,包括如下步骤:
1)在Si基片上溅射一层Au薄膜;
2)在水平管式炉的炉管中部放置蒸发源GeTe合金粉,将水平管式炉抽真空后,充入载气使炉管内维持内压为460~600Pa;
3)将步骤1)中制备的溅射有Au薄膜的Si基片放置在水平管式炉的炉管中蒸发源的下风向处,并对水平管式炉中部的蒸发源进行加热至495-505℃,保温;
4)保温结束后,停载气并维持炉管内压为110~130Pa,进行自然降温。
2.如权利要求1所述的制备Ge纳米管的方法,其特征在于,步骤1)中,所述Au薄膜的厚度为1.5~15nm。
3.如权利要求1所述的制备Ge纳米管的方法,其特征在于,步骤1)中,所述水平管式炉抽真空至120~150Pa。
4.如权利要求1所述的制备Ge纳米管的方法,其特征在于,步骤2)中,所述载气为氩气和氢气的混合气体,其中所述氢气占所述载气体积总量的4.9-5.1%。
5.如权利要求1所述的制备Ge纳米管的方法,其特征在于,步骤3)中,所述溅有Au薄膜的Si基片放置在水平管式炉的炉管中蒸发源的下风向且距炉体边缘为5~6cm处。
6.如权利要求1所述的制备Ge纳米管的方法,其特征在于,步骤3)中,当炉中部管温升至495-505℃后,控制所述溅射有Au薄膜的Si基片的温度为405~455℃。
7.如权利要求1所述的制备Ge纳米管的方法,其特征在于,步骤3)中,所述保温过程为:先保温3.5-4.5min,然后将炉管整体向下风向拖动2.9-3.1cm,再保温25.5-26.5min。
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