[发明专利]接触式粒度检测方法及装置

权利要求书

1.一种接触式粒度检测方法，其特征在于，在容器底部设有活动检测柱，活动检测柱上部设有位移传感器，向活动检测柱底部注入少量固液混合物样品，活动检测柱降下后会被样品中的固体大颗粒硌住，位移传感器检测到活动检测柱前后位置差即为样品的最大颗粒粒度值，其具体步骤如下：

1)活动检测柱抬起：清水阀打开，向容器内注入清水，储液阀打开，储液囊充水同时活动检测柱抬起；

2)冲洗：关闭储液阀，同时打开高位放液阀和低位放液阀，对活动检测柱底部进样空间进行冲洗，冲洗10-30秒钟；

3)校准：关闭清水阀，打开储液阀，活动检测柱下方的水快速从高位放液阀和低位放液阀中流出，储液囊中的水补入活动检测柱上方壳体空间，活动检测柱落至容器底部，位移传感器检测此时活动检测柱的位置记为“0”；

4)活动检测柱二次抬起：清水阀打开，储液阀打开，同时活动检测柱抬起；

5)进样：关闭清水阀和储液阀，打开样品阀和高位放液阀，向活动检测柱底部进样空间注入样品，注入量为5-15ml；

6)测量计算：打开储液阀和和高位放液阀，储液囊释放清水，活动检测柱在重力和储液囊与高位放液阀之间压力差作用下缓慢下沉，直到活动检测柱位置不再变化，位移传感器检测活动检测柱的位置即为样品的最大颗粒粒度值；

7)重复上述步骤1)——步骤6)，可实现连续测量。

2.一种接触式粒度检测装置，其特征在于，包括有壳体、活动检测柱、固定检测头和储液囊，在密闭的壳体底部设有进样空间，活动检测柱设在壳体下部，活动检测柱与壳体侧壁构成滑动副，活动检测柱上部设有固定检测头，固定检测头内设有位移传感器，壳体顶部出口依次与储液阀和储液囊相连，进样空间一侧设有样品阀，进样空间另一侧设有高位放液阀和低位放液阀，样品阀侧还设有清水阀。

3.根据权利要求2所述的一种接触式粒度检测装置，其特征在于，所述位移传感器为涡流位移传感器或激光位移传感器。

4.根据权利要求2所述的一种接触式粒度检测装置，其特征在于，高位放液阀和低位放液阀设置高度差为15mm-40mm。