[发明专利]一种测试激光二极管高温数据的装置与测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置与测试方法，特别是一种测试激光二极管高温数据的装置与测试方法。

背景技术

激光二极管的光电性能是评价一款产品质量的主要指标，而激光二极管的光电性能又会受到环境温度和自身工作发热的影响，因此，在高温下的光电性能也是评价一款激光二极管产品质量的重要指标。

一般在测试激光二极管高温光电性能有两种方法：一种是先将激光二极管发出的发散光通过凸透镜汇聚以后耦合成光器件，然后将光器件置于烘箱内，再通过光纤将光器件发出的光信号传输至信号接收端，由于受透镜的吸收和反射以及光纤的数值孔径、材质、弯曲等方面的影响激光二极管所发出的光信号在通过光纤传输至接收端时会损耗50％～90％，因此这种方法操作周期长，原材料损耗大并且测试的数据不够准确。另一种是将激光二极管和接收端的位置固定好后一同放入烘箱中测试，但这种方法操作复杂，并且由于接收端也会受到高温的影响，从而导致测试的准确性出现偏差。

因此，需要一种新的技术方案以解决上述问题。

发明内容

针对上述现有技术所存在的问题和不足，本发明的目的是提供一种结构简单、便于操作且测试准确度高的测试激光二极管高温数据的装置与测试方法。

为实现上述目的，本发明测试激光二极管高温数据的装置可采用如下技术方案：

一种测试激光二极管高温数据的装置，包括加热台、位于加热台一侧的信号接收端以及驱动电源，所述加热台上设有夹具。

本发明测试激光二极管高温数据的装置与现有技术相比：只需设置加热台、信号接收端及驱动电源，结构简单，便于操作。

为实现上述目的，本发明使用测试激光二极管高温数据的装置的测试方法可采用如下技术方案：

使用测试激光二极管高温数据的装置的测试方法，包括以下步骤：

步骤1、将需测的激光二极管固定于夹具上，并将该激光二极管与驱动电源连接；

步骤2、启动加热台，将温度升至激光二极管所需的测试温度；

步骤3、当激光二极管温度到达测试要求时，直接将激光二极管对准信号接收端，开启驱动电源进行测试；

步骤4、将测试数据收集。

本发明与现有技术相比：操作简单方便，原材料损耗少，并由于只通过加热台对激光二极管加热而不对信号接收端加热，使信号接收端收到温度的影响较小，能够提高测试准确性。

附图说明

图1为本发明测试激光二极管高温数据的装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本发明，应理解下述具体实施方式仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

请结合图1所示，本发明公开一种测试激光二极管高温数据的装置，其包括加热台20、位于加热台20一侧的信号接收端30以及驱动电源40，所述加热台20上设有用以固定激光二极管50的夹具21。

使用该测试激光二极管高温数据的装置的测试方法包括以下步骤：

步骤1、将需测的激光二极管50固定于夹具21上，并将该激光二极管50与驱动电源40连接；

步骤2、启动加热台20，将温度升至激光二极管50所需的测试温度；所述激光二极管所需的测试温度为70℃至100℃，在本技术领域中，优选的测试温度为70℃或者85℃，可获得较佳的测试效果。

步骤3、当激光二极管50温度到达测试要求时，直接将激光二极管50对准信号接收端30，开启驱动电源40进行测试；

步骤4、将测试数据收集，并进行后期的分析处理以得到测试结论。

本发明测试激光二极管高温数据的装置的结构简单，便于操作，且测试方法操作简单方便，原材料损耗少，并由于只通过加热台20对激光二极管50加热而不对信号接收端30加热，使信号接收端30收到温度的影响较小，能够提高测试准确性。