[发明专利]一种离子源的绝缘装置无效
| 申请号: | 201110186465.7 | 申请日: | 2011-07-05 |
| 公开(公告)号: | CN102867719A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
| 发明(设计)人: | 胡宝富;唐景庭;伍三忠 | 申请(专利权)人: | 北京中科信电子装备有限公司 |
| 主分类号: | H01J37/08 | 分类号: | H01J37/08;H01J37/317 |
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| 地址: | 101111 北京市中关村科*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 离子源 绝缘 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种离子源绝缘装置,特别适合于半导体工艺设备中的离子注入机。
背景技术
离子注入机是半导体工艺中离子掺杂的典型设备,离子源产生需要掺杂的离子束,离子束再经过质量分析、校正、加速,传输到处于靶室终端工艺腔体的硅片表面。
随着半导体器件集成度越来越高,半导体工艺设备越来越复杂,对离子源的的束流要求也越来越高。对于注入工艺,低能量大速流的离子注入机是发展的方向。适用于该类离子注入机的离子源需要产生宽带束或扁状带束。本发明正是基于应用该类离子源而设计。
发明内容
针对现有半导体工艺中离子注入机设备发展的要求,本发明设计一种用于离子注入机离子源的绝缘装置。该装置涉及到一种引出绝缘环,用于离子源与地电位的隔离。引出绝缘环从设计角度保护离子源高电位,实现电隔离。
该装置亦涉及到引出绝缘环两端的法兰联接方式,该联接方式是采用一种绝缘材料制造的联接杆,并将联接杆阵列分布在引出绝缘环周围。
该装置亦设计到一种屏蔽筒设计,其可以防止金属颗粒进入并附着在引出绝缘环内表面。
本发明有以下几个显著特点:
1.绝缘效果明显;
2.结构简单,便于加工制造;
附图说明
图1是一种用于离子源绝缘装置组件的正视图和剖视图。
图2是引出绝缘环的正视图和剖视图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步介绍,但不作为对本发明专利的限定。
本发明公开了一种用于离子注入机的离子源绝缘装置,如图1所示,和离子注入机用离子源一起使用。该离子源可以产生宽带束或扁状带束。该装置为使其正常工作隔离高压电位和地电位。该装置主要包括:离子源(1)、法兰联接杆(2)、源安装法兰(3)、引出绝缘环(4)、源法兰(5)、屏蔽筒(6)和真空室(7)等。
如图1所示,引出绝缘环(4)安装于源安装法兰(3)和源法兰(5)之间,可以很好的保护高压电位和地电位。如图2中所示,引出绝缘环(4)采用绝缘材料加工,内表面形成规则起伏的形状,用于增加表面面积,避免积尘,产生爬电。
源安装法兰(3)和源法兰(5)间利用法兰联接杆(2)联接,法兰联接杆(2)采用抗拉强度较强的绝缘材料,并均匀分布在引出绝缘环(4)的周围。
源安装法兰(5)用于安装离子源(1),其近引出绝缘环端面呈圆弧状,以避免其在绝缘环内产生放电现象。
源法兰(5)用于引出绝缘环(4)联接真空室(7)。
屏蔽筒(6)安装与引出绝缘环(4)的内侧,固定于源法兰之上;其呈椭圆形状,并在非安装端加工成圆弧状,以避免其在绝缘环内产生放电现象。
本发明的特定实施例已对本发明的内容做了详尽说明。对本领域一般技术人员而言,在不背离本发明精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动,都构成对本发明专利的侵犯,将承担相应的法律责任。
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