[发明专利]可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统

权利要求书

1.一种可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统，其特征在于：包括上位计算机、真空罐、粒子源、至少一层隔离墙、至少一台测量设备、电源；

上位计算机与至少一台测量设备电连接，并双向通讯；粒子源与真空罐固接，面向真空罐内腔；至少一层隔离墙设于上位计算机与粒子源之间，将测量设备、真空罐、电源、粒子源置于隔离墙另一侧，使实验操作人员免于辐射；隔离墙中设有缺口，以布设连接线；

测试时，至少一块待测电路板置于真空罐内腔，与测量设备电连接；待测电路板包括主控制器、可编程逻辑器件，主控制器与可编程逻辑器件之间双向通讯，主控制器与上位计算机双向通讯，或主控制器、可编程逻辑器件分别与上位计算机双向通讯；粒子源对准待测电路板上的可编程逻辑器件照射；

上位计算机中预装有控制软件；电源为各部件供电。

2.如权利要求1所述的单粒子辐照性能测试系统，其特征在于：所述待测电路板还包括随机存储器、非易失性存储器其中之一，或它们的组合；随机存储器、非易失性存储器分别与主控制器双向通讯。

3.如权利要求1所述的单粒子辐照性能测试系统，其特征在于：所述隔离墙为多层时，每层隔离墙中的缺口错位设置。

4.如权利要求1、2或3所述的单粒子辐照性能测试系统，其特征在于：还包括监控计算机，监控计算机位于至少一层隔离墙一侧，上位计算机、测量设备、真空罐、电源、粒子源置于隔离墙另一侧，实验操作人员位于监控计算机一方；监控计算机与上位计算机通过网络接口相连接。

5.如权利要求1所述的单粒子辐照性能测试系统，其特征在于：所述控制软件的测试步骤如下：

步骤A：对待测可编程逻辑器件进行配置；

步骤B：对待测可编程逻辑器件施加激励；

步骤C：从待测可编程逻辑器件读取响应数据并对其进行存储；

步骤D：将结果数据上传给上位计算机、或同时传给监控计算机，并进行处理。

6.如权利要求1或5所述的单粒子辐照性能测试系统，其特征在于：所述测试中，依据测试目标的不同，在步骤A与步骤B之间对被测物施加辐照，或在步骤A结束后、步骤C开始前的连续时间区间中对被测物施加辐照，或在步骤A结束后、步骤D开始前的连续时间区间中对被测物施加辐照。