[发明专利]用于对机床上的工件进行测量的方法和仪器无效

专利信息
申请号: 201110160295.5 申请日: 2011-06-07
公开(公告)号: CN102275094A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 西川静雄;森田尚义;滨中宏和 申请(专利权)人: 株式会社森精机制作所
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20;G01B21/00
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;张小文
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 用于 机床 工件 进行 测量 方法 仪器
【权利要求书】:

1.一种通过包括三维偏置(R)的有线或无线测量头(10、10a、10b)来对工件(4)进行测量的方法,其中附接至机床(1、1a、101)的所述测量头(10、10a、10b)能够相对于所述工件(4)沿着三条垂直轴线或两条垂直轴线移动,并且能够通过一个或更多回转主轴而相对于所述工件(4)改变角度方向,

所述方法包括以下步骤:

在由所述测量头(10、10a、10b)改变的所述相对角度方向上对放置在任意位置的参考对象(30、30a、30b)进行多次测量;

根据沿着所述三条垂直轴线从相对角度方向测量的测量结果的改变计算所述测量头(10、10a、10b)的所述三维偏置(R);以及

随后,通过使用所述测量头(10、10a、10b)本身的所述三维偏置(R)通过所述测量头(10、10a、10b)而对所述工件(4)进行测量。

2.一种通过包括三维偏置(R)的有线或无线测量头(10、10a、10b)来对工件(4)进行测量的方法,其中附接至机床(1)的所述测量头(10、10a、10b)能够相对于所述工件(4)沿着三条垂直轴线或两条垂直轴线回转和移动,

所述方法包括以下步骤:

使得所述测量头(10、10a、10b)回转预定角度(θ),以通过所述测量头(10、10a、10b)分别从第一方向(E1)和第二方向(E2)对放置在任意位置的参考对象(30、30a、30b)进行测量,从而获取所述参考对象(30、30a、30b)的固有特定点(A1、A2、A3)的坐标;

基于所述测量头(10、10a、10b)从所述第一方向(E1)对所述参考对象(30、30a、30b)的所述特定点(A1、A2、A3)进行测量时的所述测量头(10、10a、10b)的第一机器坐标(P1)以及所述测量头(10、10a、10b)从所述第二方向(E2)对所述参考对象(30、30a、30b)的所述特定点(A1、A2、A3)进行测量时的所述测量头(10、10a、10b)的第二机器坐标(P2)而对所述测量头(10、10a、10b)的所述三维偏置(R)进行计算;以及

随后,通过使用所述测量头(10、10a、10b)本身的所述三维偏置(R)通过所述测量头(10、10a、10b)而对所述工件(4)进行测量。

3.一种通过使用包括三维偏置(R)的有线或无线测量头(10、10a)通过激光束(21)来对工件(4)进行测量的方法,其中附接至机床(1a)的所述测量头(10、10a)能够相对于所述工件(4)沿着三条垂直轴线的除了所述测量头(10、10a)并不沿着移动的一条轴线之外的两条轴线回转和移动,

所述方法包括以下步骤:

使得所述测量头(10、10a)回转预定角度(θ),以通过所述测量头(10、10a)分别从第一方向(E1)和第二方向(E2)对放置在任意位置的参考对象(30)进行测量,从而获取所述参考对象(30)的固有特定点(A1)的坐标;

根据所述测量头(10、10a)从所述第一方向(E1)对所述参考对象(30)的所述特定点(A1)进行测量时的所述测量头(10、10a)的第一机器坐标(P1)以及所述测量头(10、10a)从所述第二方向(E2)对所述参考对象(30)的所述特定点(A1)进行测量时的所述测量头(10、10a)的第二机器坐标(P2),获取在所述测量头(10、10a)沿着移动的两条垂直轴线的方向上的各个偏置(Rx和Rz);

通过预定装置获取所述激光束(21)的倾斜角度(α和β),并且利用所述激光束(21)的倾斜角度(α和β)计算在所述测量头(10、10a)并不沿着移动的所述一条轴线的方向上的偏置(Ry);

基于在所述测量头(10、10a)沿着移动的所述两条垂直轴线的方向上的所述各个偏置(Rx和Rz)并且基于在所述测量头(10、10a)并不沿着移动的所述一条轴线的方向上的所述偏置(Ry),计算所述测量头(10、10a)的所述三维偏置(R);以及

随后,通过使用所述测量头(10、10a)本身的所述三维偏置(R)通过所述测量头(10、10a)而对所述工件(4)进行测量。

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