[发明专利]基于碲化镉的薄膜光伏器件使用的硫化镉层及其制造方法有效
| 申请号: | 201110159219.2 | 申请日: | 2011-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN102237418A | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
| 发明(设计)人: | J·A·德雷顿;S·D·费尔德曼-皮博迪;R·D·戈斯曼 | 申请(专利权)人: | 初星太阳能公司 |
| 主分类号: | H01L31/0296 | 分类号: | H01L31/0296;H01L31/0352;H01L31/04;H01L31/18;C23C14/34;C23C14/06 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;朱海煜 |
| 地址: | 美国科*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 碲化镉 薄膜 器件 使用 硫化 及其 制造 方法 | ||
1.一种碲化镉薄膜光伏器件(10),包括:
衬底(12);
透明传导氧化层(14),在所述衬底(12)上;
硫化镉层(18),在所述透明传导氧化层(14)上,其中,所述硫化镉层(18)包括在大于0%到约20%的摩尔百分比中的氧;
碲化镉层(20),在所述硫化镉层(18)上;以及,
背接触层(22),在所述碲化镉层(20)上。
2.如权利要求1所述的器件(10),其中,所述硫化镉层(18)包括约1%到约18%的、优选是约5%到约15%的摩尔百分比中的氧。
3.如权利要求1或2所述的器件(10),还包括:
在所述硫化镉层(18)和所述碲化镉层(20)之间的第二硫化镉层(19),其中,所述第二硫化镉层基本没有氧。
4.如权利要求3所述的器件(10),其中,所述第二硫化镉层(19)包括硫化镉。
5.如权利要求3或4所述的器件(10),其中,所述第二硫化镉层(19)具有约10nm到约100nm的厚度。
6.如权利要求1或2所述的器件(10),还包括:
包括多个层的第二硫化镉层(19),其中在离开所述硫化镉层(18)并朝向所述碲化镉层(20)的方向中,每个层具有减少量的氧。
7.如前面权利要求任一项所述的器件(10),其中,所述硫化镉层(18)包括在从所述透明传导氧化层(14)到所述碲化镉层(20)的方向中减少的分级浓度中的氧。
8.如前面权利要求任一项所述的器件(10),还包括:
在透明传导氧化(14)层和所述硫化镉层(18)之间的电阻透明缓冲层(16)。
9.一种在衬底上沉积硫化镉层(18)的方法,所述方法包括:
在溅射气氛中,从靶(64)将硫化镉层(18)溅射在衬底(12)上,其中,所述靶(64)包括硫化镉,并且其中,所述溅射气氛包括:按照体积大于0%到约20%的量中的、优选是按照体积约2%到约15%的量中的氧和惰性气体。
10.如权利要求9所述的方法,其中,所述溅射气氛具有约10mTorr到约150mTorr的溅射压力。
11.如权利要求9或10所述的方法,还包括:
在第二溅射气氛中,将第二硫化镉层(19)溅射到所述硫化镉层(18)上,其中,所述第二溅射气氛基本没有氧。
12.如权利要求9到11的任一项所述的方法,其中,所述第二溅射气氛基本由惰性气体组成。
13.如权利要求9到12的任一项所述的方法,其中,所述溅射气氛中氧的量在溅射期间减少,以使得所述硫化镉层(18)具有在离开所述衬底的方向中减少的氧的分级浓度。
14.如权利要求9到13的任一项所述的方法,还包括:
溅射包括多个层的第二硫化镉层(19),其中每个层在离开所述衬底的方向中具有减少量的氧。
15.一种制造碲化镉薄膜光伏器件(10)的方法,所述方法包括:
将电阻透明缓冲层(16)沉积在透明传导氧化层(14)上,其中所述透明传导氧化层(14)在衬底(12)上;
根据权利要求9到14的任一项的方法,将硫化镉层(18)溅射在所述电阻透明缓冲层(16)上;以及,
将碲化镉层(20)沉积在所述硫化镉层(18)上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





