[发明专利]触控装置及其侦测方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种输入装置，特别涉及一种触控装置及其侦测方法。

【背景技术】

触控装置系一种常见之输入装置，包括基板及设于该基板上之侦测组件，该侦测组件用于侦测触控点之位置。就触控装置之触控技术而言，目前有电阻式触控装置、红外线式触控装置、表面声波式触控装置、压力传感式触控装置及电容式触控装置。

电阻式触控装置主要存在之缺陷在于反应速率较慢。通常，电阻式触控装置包括一用于触控的导电薄膜，惟，该导电薄膜容易因磨损而缩短使用寿命。为了克服电阻式触控装置因其包含的导电薄膜所存在之缺陷，设计者采用红外线式触控装置替代电阻式触控装置。红外线式触控装置包括复数红外线发射器及复数红外线接收器。复数红外线发射器及复数红外线接收器一一对应。该复数红外线发射器及复数红外线接收器用于感测触控面板之表面之触控点之位置。当触控面板之表面被触控时，从红外线发射器发射之光线被阻挡，从而使与该红外线发射器对应之红外线接收器接收不到光线而被感应。惟，上述复数红外线发射器及红外线接收器会消耗过多之电能，导致红外线式触控装置电能损耗较高。

电容式触控装置包括采用玻璃材质制成之基板及设于基板上之复数电容。该基板用于代替导电薄膜。电容式触控装置虽可成功侦测到触控点之位置，惟，此种触控装置因其需内嵌导电物质于基板上，导致制造工艺成本高且造成侦测过程中较高的电能损耗。

为了克服上述触控装置之缺陷，一种利用声波侦测触控点之触控装置业已产生。该触控装置包括复数声波感测器及一基板。该复数感测器设置于该基板之周缘，用于接收触控点所产生之声波讯号，该声波讯号在被收集后可间接用于判断该触控点之位置。上述触控位置之基板可采用单纯玻璃材质制成，以替代成本较高且能耗较高之导电基板，从而节省制造成本、降低能耗。

惟，上述触控装置采用声波感测器侦测到触控点之声波，侦测过程中会有噪音产生，导致上述触控装置侦测声波时会存在一有限讯号噪音比。故，上述触控装置之侦测准确度会因该有限讯号噪音比而减小。

故，需要提供一种新型之触控装置，克服上述触控装置存在之缺陷。

【发明内容】

有鉴于此，有必要提供一种侦测准确度较高之触控装置。

一种触控装置，包括：

复数感测器，设于一基板上，用于感测声波并对应产生电子讯号；

存储模块，用于存储该基板上之复数点坐标之延时测量标准值；及

处理模块，与该复数感测器及存储模块连接，根据该电子讯号计算触控点之延时测量值及将该延时测量值与该复数之延时测量标准值进行比较，以获得该触控点之坐标。

进一步地，该复数感测器靠近该基板之四角设置。

进一步地，该基板由玻璃制成。

进一步地，该处理模块包括放大该电子讯号之放大器。

进一步地，该处理模块还包括根据该电子讯号计算触控点之延时测量值之复数计时器。

进一步地，该处理模块包括连接于该复数计时器与该放大器之间且控制该复数计时器进行计时之逻辑门单元。

进一步地，该处理模块还包括控制芯片，用于执行将该延时测量值与该复数之延时测量标准值进行比较以获得该触控点之坐标之计算程序，并与该存储模块通讯连接。

进一步地，如果该触控点之延时测量值等于复数延时测量标准值其中之一时，则触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。

进一步地，如果该触控点之延时测量值最接近于该复数延时测量标准值其中之一时，则该触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。

进一步地，每一点坐标之延时测量标准值为在一校准过程中复数次测量之平均值。

一种触控装置，包括：

复数感测器，设于一基板上，用于感测声波并将该声波转换为电子讯号；及

处理模块，用于存储该基板上之复数点坐标之延时测量标准值，其中，每一点坐标之延时测量标准值为复数次测量之平均值，该处理模块接收该电子讯号并计算触控点之延时测量值，并将该触控点之延时测量值与该复数延时测量标准值进行比较，以获得该触控点之坐标。

进一步地，该复数感测器靠近该基板之四角设置。

进一步地，该基板由玻璃制成。

进一步地，该处理模块包括放大该电子讯号之放大器。

进一步地，该处理模块还包括根据该电子讯号计算该触控点之延时测量值之复数计时器。

进一步地，该处理模块包括连接于该复数计时器与该放大器之间且控制该复数计时器进行计时之逻辑门单元。