[发明专利]一种具有自整流效应的阻变存储器无效

专利信息
申请号: 201110155291.8 申请日: 2011-06-10
公开(公告)号: CN102214790A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 潘峰;陈超;曾飞;罗景庭;唐光盛 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 整流 效应 存储器
【权利要求书】:

1.一种阻变存储器,其特征在于:所述阻变存储器由底电极、沉积于所述底电极上的阻变层和沉积于所述阻变层上的上电极组成;所述底电极为条状的p型硅电极;所述阻变层为n型氧化锌薄膜;所述上电极为条状的铝电极或钛电极;所述底电极和所述上电极相互垂直设置。

2.根据权利要求1所述的阻变存储器,其特征在于:所述底电极沉积于氧化硅层上。

3.根据权利要求1或2所述的阻变存储器,其特征在于:所述p型硅电极中掺杂B、Al和Ga中任一种元素;所述掺杂的元素的浓度为1012cm-3-1021cm-3;所述p型硅电极的电阻率为0.0001Ω·cm-0.1Ω·cm。

4.根据权利要求1-3中任一所述的阻变存储器,其特征在于:所述n型氧化锌薄膜的厚度为10nm-1000nm;电阻率为0.1Ω·cm-1010Ω·cm。

5.根据权利要求1-4中任一所述的阻变存储器,其特征在于:所述n型氧化锌薄膜中锌的原子百分数为50%-50.6%,余量为氧。

6.根据权利要求1-4中任一所述的阻变存储器,其特征在于:所述n型氧化锌薄膜中掺杂Co、Ni、Mn、Al、Ga、Fe和Cu中任一种元素;所述掺杂的元素的原子百分数为0-5%,但不为0;所述n型氧化锌薄膜中锌的原子百分数可为45%-50.6%,但不为50.6%,余量为氧。

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