[发明专利]一种CuI薄膜的制备方法无效
| 申请号: | 201110154539.9 | 申请日: | 2011-06-09 |
| 公开(公告)号: | CN102296337A | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
| 发明(设计)人: | 李京波;李庆跃;李凯;孟秀清;池旭明;李树深;夏建白 | 申请(专利权)人: | 浙江东晶光电科技有限公司;浙江东晶电子股份有限公司 |
| 主分类号: | C25D9/04 | 分类号: | C25D9/04 |
| 代理公司: | 金华科源专利事务所有限公司 33103 | 代理人: | 黄飞 |
| 地址: | 321016 浙江省金华市秋滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 cui 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种CuI薄膜的制备方法,包括CuI纳米管,其特征在于:以FTO玻璃做衬底、高纯度的去离子水做反应溶剂,以CuSO4和KI为反应溶质,以EDTA做络合剂,采用电化学方法在沉积电位为-0.05~-0.6V、沉积时间为30~200分钟制备而成。
2.根据权利要求1所述的CuI薄膜的制备方法,其特征在于:溶液中CuSO4和KI的摩尔浓度分别为0.01~0.05mol/l和0.01~0.05mol/l。
3.根据权利要求1或2所述的CuI薄膜的制备方法,其特征在于:溶液中EDTA的摩尔浓度为0.01~0.05mol/l。
4.根据权利要求1所述的CuI薄膜的制备方法,其特征在于:具体制备方法如下:
a)以FTO做衬底,将衬底在丙酮、乙醇中分别超声5分钟后,用高纯度的去离子水冲洗干净,然后用高纯度的去离子水超声5分钟,并多次冲洗,用氮气吹干备用;
b)以CuSO4和KI做反应溶质,以高纯度的去离子水做溶剂,以EDTA做络合剂,将CuSO4和EDTA分别溶于高纯度的去离子水中,使CuSO4和EDTA在反应溶液中的浓度分别为0.01~0.05mol/l和0.01~0.05mol/l,搅拌使其充分溶解后,混合并搅拌,使其充分混合,形成混合溶液a,将KI溶于高纯度的去离子水中,使KI在反应溶液中的浓度为0.01~0.05mol/l,搅拌使其完全溶解,形成溶液b,并将溶液b加入到混合溶液a中,搅拌使其充分混合;
c)以步骤a)中FTO衬底做工作电极,以步骤b)中的溶液做反应液,以高纯度的铂片做对电极,以饱和氯化银电极做参比电极,设计并连接好电化学反应系统,并以此作为整个反应系统;
d)将整个反应系统的工作电压设定在-0.05~-0.6V之间,开始CuI高质量薄膜的生长反应,在该电压下反应30~200分钟;
e)反应完毕将衬底取出,用氮气吹干。
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