[发明专利]一种大电流(ZK7000A)快恢复整流二极管的生产方法有效
| 申请号: | 201110148557.6 | 申请日: | 2011-06-03 |
| 公开(公告)号: | CN102214571A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
| 发明(设计)人: | 陈建平 | 申请(专利权)人: | 江苏威斯特整流器有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 212314 江苏省丹阳市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电流 zk7000a 恢复 整流二极管 生产 方法 | ||
技术领域
本发明涉及大电流(ZK7000A)快恢复整流二极管的生产方法。
背景技术
目前国内技术可以制造的普通型整流元件为5-5000A(ZP型)和一些容量不是很大的快恢复二极管50-3000A(ZK型),而现有的ZK行业标准也只制定到5-500A(JB5836-91).随着科学技术的发展,国外电子产品的发展非常迅速,其产品也不断涌入国内市场。对国内市场推动作用很大。许多行业中例如汽车行业中大量电焊机使用的大容量的点焊机、缝焊机、滚焊机,都需要大量大容量的ZK元件。由于国内半导体厂家生产的ZK元件电容量较小,最大只到4000A,另外体积也较大,直径都大于70mm,而管压降也都在1.6V以上,这些硬性缺陷不能满足大电流焊机业的发展,因此,很多焊机生产企业都选用国外进口ZK管件。例:瑞士ABB和德国西门康均向国内提供大电流ZK管件,而电流达7000A的快恢复整流管在国内半导体行业中尚属空白。
发明内容
本发明的目的在于克服上述国内ZK元件的缺陷,提供一种体积小、压降小而电流容量达7000A的快恢复整流二极管的生产方法。
本发明技术方案是通过以下方式实现的:
一种大电流(ZK7000A)快恢复整流二极管的生产方法,其主要工艺步骤如下:硅片清洗、三氯氧磷扩散、单面磨片、扩硼、套片、硅片蒸铝、钼元蒸金、烧结、芯片蒸金、合金、磨角、腐蚀、保护、电子辐照、退火。
所述的三氯氧磷扩散工艺步骤为:将清洗干净硅片插入硅舟,缓缓推入特定温度的扩散炉温区中,,氧气携带冰点POCL3杂质源扩散一定时间,使其结深控制在18±2um。
所述的扩硼工艺步骤为:将清洗干净硅片磨片面涂一层硼铝杂质源,烘干,阳阳对叠,放入硅舟,推入特定温度的扩散炉中,扩散一定时间,使其结深控制在60um。
所述芯片蒸金工艺步骤为:将清洗干净的钨丝、金丝和所需蒸金片一起装入蒸发炉,待真空抽至5×10-3Pa时,调节蒸发电源从观察孔观察,待金丝完全溶化,蒸发完成后关闭蒸发电源,待温度冷却后充气出炉。
所述合金的工艺步骤为:将蒸发合格的芯片阳对阳叠好,中间用石墨片间隔,放进烧结炉,待炉温升至850℃左右,真空度达到5×10-3Pa时降机退火合金,合金温度控制在430℃左右,恒温时间15分钟后关加热电源,炉温降至150℃时充气出炉。
所述腐蚀工艺步骤:将芯片阴极除台面处用黑胶保护后,在旋转腐蚀机上,腐蚀15-20″,腐蚀液由发烟硝酸、氢氟酸、磷酸、冰乙酸配比而成。
在三氯氧磷扩散中,扩散炉温区的温度为1210℃,温区误差±1℃。
在扩硼工艺中,扩散炉温区温度为1260℃,温区内误差±1℃。
在腐蚀工艺中,腐蚀液体积配比发烟硝酸∶氢氟酸∶磷酸∶冰乙酸=3∶2∶1∶1。
具体实施方式
一种大电流(ZK7000A)快恢复整流二极管的生产方法,其特征在于:其主要工艺步骤如下:硅片清洗、三氯氧磷扩散、单面磨片、扩硼、套片、硅片蒸铝、钼元蒸金、烧结、芯片蒸金、合金、磨角、腐蚀、保护、电子辐照、退火。
实施例1
本实施例的大电流快恢复整流二极管的生产方法,其主要工艺步骤依次为:
1.硅片清洗:
将硅片放入塑料盒,摆入超声波,超洗,其间需勤换水,超洗两天后插清洗架分别煮1#、2#清洗液各两遍,而后煮去离子水两遍,烘干待用。
2.三氯氧磷扩散:
将清洗干净硅片插入硅舟,缓缓推入扩散炉温区中,扩散温度1210℃,温区误差±1℃,氧气携带冰点POCL3杂质源扩散一定时间,使其结深控制在18±2um。
3.单面磨片:
将硅片用蜡对合胶牢,并抽测厚度,力求厚度一致。装入行星位,设定磨片时间,开启电源磨片。时间到后抽测磨片厚度是否达到要求。根据抽测磨片厚度适当增减磨片时间,以使磨片厚度达到要求。
4.扩硼:
将清洗干净硅片磨片面涂一层硼铝杂质源,烘干,阳阳对叠,放入硅舟,推入扩散炉中,扩散温度为1260℃,温区内误差±1℃,扩散一定时间,使其结深控制在60um。
5.套片:
将硅片用蜡胶在玻璃板上。胶合面不能有空隙和气泡。用金刚砂刀片做成各种直线相对应的套刀。套位时加适当冷却液,进刀不宜过快,扶稳玻璃。听到套穿声音即退刀。自然水冲净后在电炉上将硅片化开,并用664洗液清洗、烘干。
6.硅片蒸铝:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





