[发明专利]磁共振成像装置

说明书

相关申请的交叉引用

本申请基于2010年5月31日提交的在先的日本专利申请No.2010-124996以及2011年4月7日提交的在先的日本专利申请No.2011-85630并要求其优先权，其全部内容通过引用结合在本申请中。

技术领域

本发明涉及磁共振成像装置。

背景技术

以往，作为与磁共振成像装置有关的摄像法，有高速自旋回波法(Fast Spin Echo：FSE)。该FSE法为通过在对被检体施加翻转脉冲(flip pulse)后依次施加多个触发脉冲(flop pulse)，从而收集被称为回波链(echo train)的多个回波信号的摄像法。在此所提到的翻转脉冲是指用于激励被检体内的原子核自旋(spin)的RF(Radio Frequency)脉冲。另外，所谓触发脉冲是指用于重聚焦(refocus)原子核自旋的相位的RF脉冲。

在该FSE法中，由于施加多个RF脉冲，因此会与自旋回波一起生成激励回波(stimulated echo)。并且，由于该激励回波，被收集的回波信号有时会产生相移。这种回波信号的相移将成为产生灵敏度不均或信号下降、重影(ghost)等画质劣化的原因。

为了防止这种画质劣化，一般情况是，在正式扫描(scan)前执行用于对回波信号中产生的相移差进行测定的预扫描(prescan)，基于由预扫描测定出的相位差来校正正式扫描用的脉冲序列(pulse sequence)。此时，例如，在预扫描中，执行消除(cancel)激励脉冲的脉冲序列，只收集自旋回波。并且，在读出(readout)方向上对由预扫描收集到的自旋回波中的第1或第2回波信号进行傅立叶(Fourier)变换，并计算第1回波信号与第2回波信号之间的0次以及1次相位差。此后，计算用于根据计算出的0次以及1次相位差来校正读出方向以及切片选择方向的相移的校正量，并基于计算出的校正量来变更正式扫描用的脉冲序列。

然而，在上述以往技术中，有时会由于相位编码用倾斜磁场产生的涡电流的影响而无法校正在相位编码方向产生的相移，从而因该相移而致使画质发生劣化。

发明内容

本发明涉及的磁共振成像装置具备执行部、计算部与校正部。执行部分别执行第1预扫描与第2预扫描，其中，该第1预扫描使用了不施加读出用倾斜磁场以及相位编码(encoding)用倾斜磁场而在相位编码方向施加多个采样(sampling)用倾斜磁场的第1脉冲序列，该第2预扫描使用了不施加读出用倾斜磁场而以与上述第1脉冲序列相同的回波信号来施加采样用倾斜磁场，并在正式扫描用的脉冲序列中施加的相位编码用倾斜磁场中施加有代表性的相位编码用倾斜磁场的第2脉冲序列。计算部根据通过上述第1预扫描收集到的多个回波信号的相位差与通过上述第2预扫描收集到的多个回波信号的相位差，来计算由相位编码用倾斜磁场在相位编码方向产生的相移量作为校正量。校正部基于由上述计算部计算出的上述校正量来校正上述正式扫描用的脉冲序列。

在下面的描述中将提出本发明的其它目的和优点，部分内容可以从说明书的描述中变得明显，或者通过实施本发明可以明确上述内容。通过下文中详细指出的手段和组合可以实现和得到本发明的目的和优点。

效果

根据本发明涉及的磁共振成像装置，能够防止由于相位编码方向的相移而产生的图像劣化。

附图说明

结合在这里并构成说明书的一部分的附图描述本发明当前优选的实施方式，并且与上述的概要说明以及下面的对优选实施方式的详细描述一同用来说明本发明的原理。

图1为表示与第1实施方式相关的MRI装置的结构的图。

图2为表示图1所示的计算机系统(system)的详细结构的功能框(block)图。

图3为表示与第1实施方式相关的正式扫描用的脉冲序列的图。

图4为表示与第1实施方式相关的第1预扫描用的第1脉冲序列的图。

图5为表示与第1实施方式相关的第2预扫描用的第2脉冲序列的图。

图6以及图7为用于说明由与第1实施方式相关的序列校正部进行的相移校正的图。

图8为表示由与第1实施方式相关的MRI装置进行的相移校正的处理步骤的流程图(flowchart)。

图9为表示与第1实施方式相关的第1预扫描用的第1脉冲序列的变形例的图。

图10为表示与第1实施方式相关的第2预扫描用的第2脉冲序列的变形例的图。

图11为用于说明第2实施方式的变形例的图。