[发明专利]基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及SOC的测试方法。

背景技术

随着集成电路制造工艺的逐渐提高，一块芯片上所集成的IP核(Intellectual Property)越来越多。SOC的复杂度直线上升，与此同时也给SOC测试带来了许多新的挑战。其中测试时间长，测试数据量大，测试功耗大已成为SOC测试中需要注意的三大问题。

由于SOC通常是由可以重用的IP核组成，对测试向量进行编码不需要知道IP核的结构信息，测试压缩技术在减少测试数据量和测试时间上能取得很好的效果。传统的数据压缩和解压缩的数据流形式，数据压缩部分是提前做好的，而解压缩电路是在硬件电路上实现，与测试同步进行。具体过程为首先对测试集Td进行压缩，生成相对较小的新测试集Te，再将压缩后的数据存储在ATE(Automatic Test Equipment自动测试设备)上，最后在测试时通过芯片上的解压结构解压还原成测试集Td。

数据压缩的优越性在SOC测试领域日趋明显。许多数据压缩的编码方法被提出来。其中比较经典的有Huffman编码、游程(Run-Length)编码、Golomb码、选择Huffman编码、变长Huffman编码、Tunstall编码。

现有测试方法在对IP核进行检测时，存在压缩率有待提高的问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有测试方法在对IP核进行检测时，存在压缩率有待提高的问题，提供一种基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法。

基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，它包括如下步骤：

步骤一、把测试数据进行压缩；

步骤二、将压缩后的数据传输并存储在ATE上；

步骤三、通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；

步骤四、用测试数据对SOC进行测试；

步骤一的压缩过程如下：

步骤一一、根据目标子向量的位数将测试集T_D进行划分，用测试子向量的形式表示测试向量集合；

步骤一二、对每一个子向量集使用基于最大度顶点的近似团划分算法，根据测试片段的相容性将测试片段分组，每个组中向量个数最多的重复率最高，选择子向量集中重复率最高的子向量作为参考向量；

步骤一三、对于每一个测试子向量进行编码，输入的待编码的向量和参考向量一致，编码为“0”；输入的待编码的向量和参考向量相差连续两位，根据所选择的位掩码的种类确定，编码为“10”+掩码位置+掩码值；其余情况，编码为“11”+原始向量；

步骤一四、把编码后的测试向量进行整合，整合成压缩后的测试向量。

本发明能直接利用芯核厂商提供的测试数据，能对基于扫描链设计芯核的测试数据进行压缩，将基于重复子向量和基于位掩码的数据压缩方法有机地结合在一起，能有效地降低测试数据量，提高数据压缩效率10％以上，适用于基于可复用IP核设计的SOC的测试。

附图说明

图1为本发明的数据流程示意图，图2为本发明的位掩码编码方式示意图，图3为本发明编码示意图。

具体实施方式

具体实施方式一：结合图1说明本实施方式，本实施方式它包括如下步骤：

步骤一、把测试数据进行压缩；

步骤二、将压缩后的数据传输并存储在ATE上；

步骤三、通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；

步骤四、用测试数据对SOC进行测试；

步骤一的压缩过程如下：

步骤一一、根据目标子向量的位数将测试集T_D进行划分，即用测试子向量的形式表示测试向量集合，如T1＝1100XXXX1010，m＝4，则按照划分规则有子向量集为{1100，XXXX，1010}；

步骤一二、对每一个子向量集使用基于最大度顶点的近似团划分算法(MDCP)，根据测试片段的相容性将测试片段分组，每个组中向量个数最多的重复率最高，选择子向量集中重复率最高的子向量作为参考向量；

步骤一三、对于每一个测试子向量进行编码，输入的待编码的向量和参考向量一致，编码为“0”；输入的待编码的向量和参考向量相差连续两位，根据所选择的位掩码的种类确定，编码为“10”+掩码位置+掩码值；其余情况，编码为“11”+原始向量；

步骤一四、把编码后的测试向量进行整合，整合成压缩后的测试向量。