[发明专利]光扫描装置以及成像装置

说明书

技术领域

本发明涉及光扫描装置，该光扫描装置用于在成像装置中的感光体等像载置体表面形成静电潜像，尤其涉及多光束扫描方式的光扫描装置，该方式的光扫描装置用具有多个发光源的光源发射的多束光束同时扫描来高速成像，进而本发明涉及搭载该光扫描装置的成像装置，该成像装置为具有电子照相方式的打印机、传真机、复印机的功能的成像装置、或者具有至少两种以上这些功能的多功能复合机。

背景技术

在现有技术中，采用公知的电子照相方式的成像装置利用转动多面镜来偏转扫描光源组件发射的光束，并通过适当的光学部件如成像透镜或反射镜等在感光体等像载置体上成像，形成需要的静电潜像。此外，现有的成像装置中还存在以下结构，即用反射镜等光学部件从受到转动多面镜偏转反射后的光束中分离或抽取一部分光束，作为如扫描开始信号或扫描结束信号等电触发信号，入射到光检测传感器之中。在上述公知的现有技术中，广泛采用玻璃基材的光学部件作为分离或抽取一部分光束的反射镜，如在专利文献1(JP特开平08-106039号公报)中公开的技术方案中，利用施加了镜面加工的金属块作为相当于该玻璃基材的反射镜部件。

然而，随着高速成像的发展，目前的多色成像装置采用随选打印系统，其结果为，引发用户提出更加高精致图像质量的要求。对此，专利文献2(JP特开2009-47924号公报)等公开了以下多光束扫描方式的技术方案，该方式采用具有多个发光源的二元阵列元件(VCSEL，面发光型半导体激光阵列)，用多束光束同时扫描像载置体，同时形成多条线的静电潜像。利用该多光束扫描方式的光扫描装置能够高速形成高精致图像，因而十分受到瞩目。

通常，成像装置无论是采用上述具有多个发光源的二元阵列元件，还是采用以往广泛使用的具有单独光源的端面发光激光等，光源发射的光束光量都会随着温度变化或使用时间的增加而发生变化，造成在最终输出图像中出现浓度偏差问题。对此，在目前普遍使用的采用端面发光激光的光扫描装置中，为了抑制该问题的发生，通过检测从后方发射的后方射出光，来进行光源光量调整的自动功率调整即APC控制。然而，上述多光束扫描方式中采用的具有多个发光源的二元阵列元件，对于这样的光源来说，因其在结构上不会发生从后方发射的后方射出光，因此必须用一部分光路来从前方发射的光束即用于形成静电潜像的光束中分离或抽取的一部分光束，进而通过反射等将该抽取的光束作为检测光束，入射到光电二极管等光检测传感器中，根据该光电二极管接受的光量来进行APC控制。

但是，对于从前方发射的光束分离或抽取一部分光束并经过反射等来进行APC控制来说，若要采用如专利文献1所述的被施加了镜面加工的金属块，或者采用用于抽取触发信号的玻璃基材的光学部件的方式，则会发生以下问题。例如，如果采用施加镜面加工的金属块，则该金属块的镜面加工会造成制造成本上升的问题。而如果采用目前广泛使用的玻璃基材的发射镜，则需要从光源发射的光中抽取一部分光，并且需要用多个反射镜或棱镜将该一部分光入射到位于预定位置的光检测传感器中，这样也会使得制造成本趋于上升，此外还会引起装置大型化的问题，这对于目前要求低成本的装置来说，在成本问题上尤其缺乏魅力。

对此，专利文献2公开了以下技术方案。该方案采用设有小口径开口的光束分割元件，该光束分割元件的口径小于二元阵列元件的光源发射的光束，该光束分割元件被设置为相对于与光轴垂直的平面倾斜，倾斜为预定角度如45°，该光束分割元件中靠近光源一侧设有高辉度反射面。在该结构中，通过光束分割元件的开口的光束作为形成静电潜像的写入光束直接射向多角镜等转动多面镜，而后通过转动多面镜偏转扫描后经由适当的光学元件射向像载置体。而未通过口径小于光束的开口的外围光束则被光束分割元件中靠近光源一侧的反射面反射，经过会聚透镜或反射镜等入射到设有光源的电路基板上，该电路基板上的光检测传感器读取该外围光的光量，根据该光量实行APC控制。