[发明专利]测试振荡电路的方法和系统有效
| 申请号: | 201110131708.7 | 申请日: | 2011-05-19 |
| 公开(公告)号: | CN102788923A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
| 发明(设计)人: | 张俊;徐秀强 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 秦晨 |
| 地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 振荡 电路 方法 系统 | ||
1.一种用于测试振荡电路的系统,包括:
连接于所述振荡电路的输入端子和输出端子之间的逆变器,所述逆变器被配置以基于DC偏置点电压来操作;
与所述逆变器并联连接的第一开关;
与所述第一开关串联连接的第二开关;以及
通过将所述DC偏置点电压的幅度与第一及第二电压电平比较来生成测试状态信号的内部测试电路,其中所述内部测试电路根据所述第一开关的状态和所述第二开关的状态来测量所述DC偏置点电压的所述幅度。
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一开关和所述第二开关两者同时被切换至接通状态和关断状态中的至少一种状态。
3.根据权利要求1所述的系统,其中所述内部测试电路在所述第一开关和所述第二开关处于接通状态时测量所述DC偏置点状态电压的所述幅度。
4.根据权利要求1所述的系统,其中所述内部测试电路包括用于比较所述DC偏置点电压与所述第一及第二电压电平以生成所述测试状态信号的比较器,其中所述测试状态信号表明所述振荡电路的通过状态和失败状态中的至少一种状态。
5.根据权利要求4所述的系统,其中所述内部测试电路是模数转换器。
6.根据权利要求1所述的系统,其中所述逆变器是A类放大器。
7.一种用于测试振荡电路的系统,所述振荡电路接收来自外部源的DC信号,所述系统包括:
用于生成偏置电流信号的偏置电路;
与所述偏置电路且与所述振荡电路的输入端子连接的振幅检测器,其中所述振幅检测器根据所述DC信号的幅度来生成偏置电压信号;
接收来自所述振幅检测器的所述偏置电压信号的放大器,其中所述放大器根据所述偏置电压信号来生成输出电压信号;
与所述放大器连接以根据控制信号来控制所述放大器的操作的多个开关;
与所述放大器和所述多个开关连接的电阻元件,其中所述输出电压在所述电阻元件的两端生成;以及
将所述输出电压与所述第一及第二电压电平比较并生成测试状态信号的比较器。
8.根据权利要求7所述的系统,其中所述偏置电路是电流镜电路。
9.根据权利要求7所述的系统,其中所述放大器是基于MOSFET的放大器,包括:
具有与所述振幅检测电路连接的栅极端子、与电压源连接的源极端子以及与所述电阻元件连接的漏极端子的PMOS晶体管;以及
具有与所述多个开关中的第一开关连接的栅极端子、与所述电阻元件连接的漏极端子以及与地连接的源极端子的NMOS晶体管。
10.根据权利要求7所述的系统,其中所述第一及第二电压电平根据所述输出电压来确定。
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