[发明专利]光学扫描装置和图像形成设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种能够减小扫描线的曲率的光学扫描装置，以及一种结合了这样一种光学扫描装置的图像形成设备。

背景技术

在电子照相图像形成设备中，使用光学扫描装置将扫描线施加到感光装置上以在其上形成静电潜像。这样的光学扫描装置包括多个光学元件(即，fθ透镜)。扫描线穿过这些fθ透镜而到达感光装置。

因此，为了将扫描线施加于感光装置上的预定点，需要这种fθ透镜具有使扫描线以高精确度从中透射通过的功能。

然而，fθ透镜具有如下问题：因为在于模制fθ透镜之后执行的冷却过程中fθ透镜的内部结构已经改变，所以从中穿过的扫描线会弯曲。

为了解决该问题，已经公开这样的技术：使fθ透镜在其纵向中心部分处设有调节螺钉，该调节螺钉用于通过调节由螺钉抵靠fθ透镜的按压量而使fθ透镜变形，从而使扫描线的曲率减小。

然而，因为在仅于fθ透镜的纵向中心部分处设置调节螺钉的情况下，即使通过压靠fθ透镜的调节螺钉使fθ透镜变形，也只有f θ透镜的中心部分偏斜，所以减小扫描线曲率的效果较差。

为了克服该缺点，已经公开了另一技术：使fθ透镜沿着其纵向方向总共设有三个调节螺钉，其中包括邻近中心部分定位的螺钉，并且通过调节由各个螺钉抵靠fθ透镜的按压量而使fθ透镜变形，从而使扫描线的曲率减小(例如，见日本专利公开N0.2007-065500)。

通过在日本专利公开N0.2007-065500中公开的技术，fθ透镜在其三个部分处偏斜，因此其减小扫描线曲率的效果优于fθ透镜仅在其纵向中心部分处设有调节螺钉的技术实施的效果。

然而，对上述专利申请中描述的技术而言，因为需要单独地调节设置在三个点处的螺钉，所以难以使fθ透镜变形到使扫描线的曲率最小化的程度。

鉴于上述问题，本发明的目的是提供一种能够容易地调节光学元件的变形量的光学扫描装置。

发明内容

根据本发明的光学扫描装置包括光学元件、第一调节部、第一按压部以及第一运动限制部。所述光学元件布置在从光源延伸到感光装置的光程中，并且构造成用以校正从所述光源发出的扫描线。所述第一调节部平行于所述光学元件的纵向方向布置并且具有突出部，所述突出部能够在所述光学元件的纵向方向上的多个点处压靠所述光学元件。所述第一按压部构造成用以按压所述第一调节部抵靠所述光学元件。所述第一运动限制部构造成用以将所述第一按压部设定在第一状态或第二状态，在所述第一状态下，所述第一按压部能够在与所述光学元件的纵向方向平行的方向上运动；在所述第二状态下，所述第一按压部受到限制而不能运动。

因为该配置能够通过用单个第一按压部压靠能够在多个点处压靠光学元件的第一调节部而使光学元件变形，所以可以容易地调节光学元件的变形量。具体地，通过使第一按压部平行于光学元件的纵向方向运动，第一按压部在第一调节部上的作用力的作用点可以移位，这使得能够容易地调节每个突出部对光学元件的按压力。

因为该配置能够在多个点处压靠光学元件，所以在光学元件的多个部位处使光学元件偏斜。因此，根据本发明的配置能够容易地调节光学元件的变形量，同时有效地减小扫描线的曲率。

附图说明

图1是示出结合有根据本发明第一实施方式的光学扫描装置的图像形成设备的结构的视图；

图2是示出根据本发明第一实施方式的光学扫描装置的结构的平面图；

图3是示出根据本发明第一实施方式的光学扫描装置的结构的侧视立面图；

图4是示出根据本发明第一实施方式的光学扫描装置的结构的立体图；

图5A是示出根据本发明第一实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的平面图；

图5B是示出根据本发明第一实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的右侧视图；

图5C是示出根据本发明第一实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的平面图；

图6A是示出根据本发明第二实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的平面图；

图6B是示出根据本发明第二实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的右侧视图；

图6C是示出根据本发明第二实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的平面图；

图7A是示出根据本发明第三实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的平面图；

图7B是示出根据本发明第三实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的右侧视图；

图7C是示出根据本发明第三实施方式的光学扫描装置的结构的相关部分的平面图；