[发明专利]触摸屏触摸点的检测方法

权利要求书

1.一种触摸屏触摸点的检测方法，该触摸屏包括：

一导电膜，该导电膜具有阻抗异向性以定义出相互垂直的一低阻抗方向(Y方向)和一高阻抗方向(X方向)，该导电膜低阻抗方向的相对两侧分别为第一侧边和第二侧边；及

沿该第一侧边设置的多个相互间隔的第一电极，和沿该第二侧边设置的多个相互间隔的第二电极，该多个第一电极和多个第二电极分别与该导电膜电连接；

该检测方法包括以下步骤：

对触摸点进行感测，取得该多个第一电极和多个第二电极所检测到的实际感测信号值，判断与触摸点相邻的两个第一电极和两个第二电极，定义该两个第一电极和两个第二电极之间的导电膜为校正区域；

设定该校正区域的一理想电阻值(R_ideal)；

定义该两个第一电极和两个第二电极中的任意一电极为i，根据该理想电阻值及该校正区域无触摸时的实际电阻值间的比例，校正该电极i的实际感测信号值S_i。

2.如权利要求1所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，定义该两个第一电极和两个第二电极中与该电极i在X方向相邻的电极为iX，所述校正该电极i的实际感测信号值S_i为对该电极i的感测信号进行X方向校正，校正方法满足以下公式：其中R_X为无触摸时该电极i与电极iX之间的导电膜的实际电阻值，S_iX′为该电极i在X方向校正后的感测信号值。

3.如权利要求2所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，该校正后的感测信号值S_iX′用于计算触摸点Y方向坐标。

4.如权利要求3所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，该触摸点在Y方向坐标根据公式计算，该公式中A为该两个第一电极在X方向校正后的感测信号之和，B为该两个第二电极在X方向校正后的感测信号之和，P_Y为触摸屏在Y方向的解析度。

5.如权利要求1所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，定义该两个第一电极和两个第二电极中与该电极i在Y方向相邻的电极为iY，所述校正该电极i的实际感测信号值S_i为对该电极i的感测信号进行Y方向校正，校正方法满足以下公式：其中R_Y为无触摸时该电极i与电极iY之间的导电膜的实际电阻值，S_iY′为该电极i在Y方向校正后的感测信号值。

6.如权利要求5所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，该校正后的感测信号值S_iY’用于计算触摸点X方向坐标。

7.如权利要求6所述的触摸屏触摸点的检测方法，该触摸点在X方向坐标根据公式该公式中C为相对的第一电极与第二电极在Y方向校正后的感测信号之和，D为另一对相对的第一电极与第二电极在Y方向校正后的感测信号之和，P_X为触摸屏在X方向的解析度，n为触摸屏第一电极或第二电极的数量，N为与触摸点最近的两个第一电极或两个第二电极中在X方向离0点最近的电极序号。

8.如权利要求1所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，进一步对该两个第一电极和两个第二电极所检测到的实际感测信号值之和通过公式进行校正，该公式中，R_m为该两个第一电极和两个第二电极之间的校正区域的导电膜实际电阻值，S_m为该两个第一电极和两个第二电极所检测到的实际感测信号之和，S_m′为校正后的该两个第一电极和两个第二电极所检测到的实际感测信号之和。

9.如权利要求8所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，该校正后的感测信号值S_m′用于计算触摸点的X轴坐标和Y轴坐标。

10.如权利要求1所述的触摸屏触摸点的检测方法，其特征在于，取多个与该导电膜具有相同参数的参考导电膜，分别测试所述多个参考导电膜沿低阻抗方向的电阻值，并取该测试获得的多个电阻值的平均值作为理想电阻值，所述相同参数是指所述多个参考导电膜与该导电膜至少具有相同的材料组成、厚度及面积。