[发明专利]一种晶体管晶体管逻辑故障注入方法及装置有效
| 申请号: | 201110117259.0 | 申请日: | 2011-05-06 |
| 公开(公告)号: | CN102769457A | 公开(公告)日: | 2012-11-07 |
| 发明(设计)人: | 付景志;彭时涛;万波 | 申请(专利权)人: | 北京旋极信息技术股份有限公司 |
| 主分类号: | H03K19/0185 | 分类号: | H03K19/0185 |
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 栗若木;王漪 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 晶体管 逻辑 故障 注入 方法 装置 | ||
1.一种晶体管晶体管逻辑(TTL)故障注入方法,其特征在于,该方法包括:
将输出端口的TTL信号按照模拟信号进行模数采样,得到数字信号,将所述数字信号转换为输入电压,将所述输入电压与设定的高低电平电压阈值进行比较后,得到一逻辑电平,再将该逻辑电平转换为输出电平,将所述输出电平作为TTL信号送入输入端口。
2.按照权利要求1所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
将所述逻辑电平转换为输出电平后,还将所述输出电平进行数模转换,得到输出电压,将所述输出电压作为TTL信号送入输入端口。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,
将所述输入电压与设定的高低电平电压阈值进行比较后,得到逻辑电平的过程如下:
所述输入电压的数值大于等于设定的高电平电压阈值时,得到的逻辑电平为高;
所述输入电压的数值小于等于设定的低电平电压阈值时,得到的逻辑电平为低;
所述输入电压的数值位于设定的高电平电压阈值与低电平电压阈值之间时,得到的逻辑电平与上一输入电压得到的逻辑电平一致。
4.按照权利要求1或2所述的方法,其特征在于,
将所述逻辑电平转换为输出电平指:
逻辑电平为高时,其转换后的输出电平为设定的高电平值;
逻辑电平为低时,其转换后的输出电平为设定的低电平值。
5.按照权利要求4所述的方法,其特征在于,该方法还包括,
在所述输出端口和输入端口之间直接相连的TTL传输线上设置一开关单元,在故障注入过程中,该开关单元保持断开状态。
6.一种晶体管晶体管逻辑(TTL)故障注入方法,其特征在于,该方法包括:
将输出端口的TTL信号转换为输入电压,将所述输入电压与设定的高低电平电压阈值进行比较后,得到一逻辑电平,再将该逻辑电平转换为输出电平,将所述输出电平进行数模转换,得到输出电压,将所述输出电压作为TTL信号送入输入端口。
7.按照权利要求6所述的方法,其特征在于,
将所述输入电压与设定的高低电平电压阈值进行比较后,得到逻辑电平的过程如下:
所述输入电压的数值大于等于设定的高电平电压阈值时,得到的逻辑电平为高;
所述输入电压的数值小于等于设定的低电平电压阈值时,得到的逻辑电平为低;
所述输入电压的数值位于设定的高电平电压阈值与低电平电压阈值之间时,得到的逻辑电平与上一输入电压得到的逻辑电平一致。
8.按照权利要求6或7所述的方法,其特征在于,
将所述逻辑电平转换为输出电平指:
逻辑电平为高时,其转换后的输出电平为设定的高电平值;
逻辑电平为低时,其转换后的输出电平为设定的低电平值。
9.一种晶体管晶体管逻辑(TTL)故障注入装置,其特征在于,该装置包括:
数据采集单元,将输出端口的TTL信号按照模拟信号进行模数采样,得到数字信号;
数据处理单元,将所述数据采集单元转换的数字信号转换为输入电压,将所述输入电压与设定的高低电平电压阈值进行比较后,得到逻辑电平,将该逻辑电平转换为输出电平,并将该输出电平作为TTL信号送入输入端口。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,该装置还包括数据输出单元,所述数据处理单元通过该数据输出单元将TTL信号送入输入端口,其中:
数据输出单元,将所述数据处理单元得到的输出电平进行数模转换,得到的模拟信号作为所述TTL信号。
11.按照权利要求9或10所述的装置,其特征在于,该装置还包括,
在所述输出端口和输入端口之间直接相连的TTL传输线上设置有一开关单元,在故障注入过程中,该开关单元保持断开状态。
12.一种晶体管晶体管逻辑(TTL)故障注入装置,其特征在于,该装置包括:
数据处理单元,将输出端口的TTL信号转换为输入电压,将所述输入电压与设定的高低电平电压阈值进行比较后,得到逻辑电平,将该逻辑电平转换为输出电平;
数据输出单元,将所述数据处理单元得到的输出电平进行数模转换,得到模拟信号,将该模拟信号作为TTL信号送入输入端口。
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