[发明专利]光学式检测装置、显示装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 201110113764.8 申请日: 2011-04-28
公开(公告)号: CN102270066A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 大西康宪 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李伟;阎文君
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 检测 装置 显示装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种光学式检测装置,其特征在于,具备:

光源部,其射出光源光;

曲线状的光引导器,其包括以下的面:位于上述光引导器的端部并被射入光源光的光入射面以及射出自上述光入射面射入的上述光源光的凸面;

照射方向设定部,其接收自上述光引导器的上述凸面射出的上述光源光,将照射光的照射方向设定在上述凸面的法线方向;

受光部,其接收上述照射光被对象物反射的反射光;及

检测部,其根据上述受光部的接收结果,至少检测上述对象物所位于的方向。

2.根据权利要求1上述的光学式检测装置,其特征在于,

包括射出第二光源光的第二光源部,

通过自上述光引导器的一端部的光入射面射入上述光源光,在上述对象物的检测区域形成第一照射光强度分布,通过自上述光引导器的另一端部的光入射面射入上述第二光源光,在上述检测区域形成强度分布与上述第一照射光强度分布不同的第二照射光强度分布。

3.根据权利要求1上述的光学式检测装置,其特征在于,

包括:第二光源部,其射出第二光源光;

曲线状的第二光引导器,其包括以下的面:位于上述第二光引导器的端部并被射入上述第二光源光的光入射面以及射出自上述光入射面射入的上述第二光源光的凸面;

通过将上述光源光射入到上述光引导器的一端部的光入射面,在上述对象物的检测区域形成第一照射光强度分布,通过将上述第二光源光射入到上述第二光引导器的另一端部的光入射面,在上述检测区域形成强度分布与上述第一照射光强度分布不同的第二照射光强度分布。

4.根据权利要求3上述的光学式检测装置,其特征在于,

上述光引导器与上述第二光引导器被排列配置,

上述光引导器与上述第二光引导器在如下的方向上排列配置,该方向是与沿着排列了上述光引导器和上述照射方向设定部的排列方向的面交叉的方向。

5.根据权利要求2上述的光学式检测装置,其特征在于,

上述第一照射光强度分布是照射光的强度随着从上述光引导器的一端部朝向另一端部而降低的强度分布,

上述第二照射光强度分布是照射光的强度随着从上述光引导器的另一端部朝向一端部而降低的强度分布。

6.根据权利要求2上述的光学式检测装置,其特征在于,

包括进行上述光源部和上述第二光源部的发光控制的控制部,

上述控制部进行以下控制:通过使上述光源部和上述第二光源部交替发光,来交替形成上述第一照射光强度分布和上述第二照射光强度分布。

7.根据权利要求2上述的光学式检测装置,其特征在于,

包括进行上述光源部和上述第二光源部的发光控制的控制部,

上述控制部按照上述受光部在上述光源部发光的第一发光期间中的检测受光量与上述受光部在上述第二光源部发光的第二发光期间中的检测受光量相等的方式,进行上述光源部和上述第二光源部的发光控制。

8.根据权利要求1上述的光学式检测装置,其特征在于,

上述检测部根据上述受光部的接收结果,检测从上述光学式检测装置到上述对象物的距离,根据上述距离和上述对象物位于的方向检测上述对象物的位置。

9.根据权利要求1上述的光学式检测装置,其特征在于,

包括将上述照射光的照射方向限制在上述凸面的法线方向的照射方向限制部。

10.根据权利要求9上述的光学式检测装置,其特征在于,

上述照射方向限制部是被设置在将上述光学式检测装置覆盖的框体之上的狭缝,

上述狭缝具有沿着上述凸面的法线方向的互相对置的第一狭缝面和第二狭缝面。

11.根据权利要求10上述的光学式检测装置,其特征在于,

上述第一狭缝面及上述第二狭缝面形成有凹部。

12.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1至权利要求11中任一项上述的光学式检测装置。

13.一种电子设备,其特征在于,包括权利要求1至权利要求11中任一项上述的光学式检测装置。

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