[发明专利]一种线扫描探测器检测太阳能电池片缺陷的系统无效
| 申请号: | 201110112253.4 | 申请日: | 2011-05-03 |
| 公开(公告)号: | CN102253051A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
| 发明(设计)人: | 杨广;严征 | 申请(专利权)人: | 3i系统公司 |
| 主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;G01N21/94 |
| 代理公司: | 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 | 代理人: | 华辉;周端仪 |
| 地址: | 英国英属开曼*** | 国省代码: | 英国;GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 扫描 探测器 检测 太阳能电池 缺陷 系统 | ||
技术领域
本发明属于检测系统技术领域,具体的说,涉及一种线扫描探测器检测太阳能电池片缺陷的系统,应用于太阳能电池片的PL缺陷检测。
背景技术
由于光伏产业在清洁能源中扮演着越来越重要的角色,太阳能电池的制造商正在花大力提高生产效率,在增大产能的同时降低生产成本。这样,在生产过程中的检测系统就变得至关重要。太阳能电池的原始电池片在生产过程中就存在黑芯,裂纹等问题,由于它非常脆弱,在生产过程中,很容易造成肉眼无法察觉的破损,所以尽早发现不合格的电池片,避免它流入下一道工艺,不仅可以减少浪费,还可以尽早发现工艺中存在的问题。
检测系统的基本性能由两个关键指标衡量:检测速度和检测灵敏度,随着生产技术的进步,制造速度不断加快,对产品质量要求的提高,需检测的缺陷越来越小,因此对检测系统的速度和灵敏度的要求也在不断提高。
现在使用的PL检测系统,是根据光致发光原理,采集太阳能电池片荧光信号并用CCD成像,通过图像分析来检测太阳能电池的裂纹、黑芯、污染等缺陷,判断电池片的质量。由于太阳能电池片荧光的波长在近红外波段,而硅CCD在此波段的转换效率很低,如要提高检测速度,必须使用InGaAs相机,而InGaAs材料非常昂贵,为了提高检测灵敏度,不可避免要增加像素数量,从而增加感光材料面积,使成本越来越高;另一种提高检测速度的方法是增加激光的强度,而高功率激光的电源和冷却系统非常庞大复杂,它的匀光系统成本也非常高。总之,迫切需要一种效率高,速度快的检测设备用于太阳能电池生产线的高分辨率检测。
发明内容
本发明克服了现有技术中的缺点,提供了一种线扫描探测器检测太阳能电池片缺陷的系统,使用线扫描探测器可以将激光光斑聚焦在一条很窄的线上,大大提高了功率密度,从而提高了检测速度。
为了解决上述技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:
一种线扫描探测器检测太阳能电池片缺陷的系统,包括照明系统和成像系统,所述照明系统为线性光源,所述成像系统包括线扫描探测器以及与之匹配的成像镜头。
进一步,所述扫描探测器为线性InGaAs探测器。
进一步,还包括太阳能电池片移动机构和对应的编码器。
进一步,所述线性光源为线性激光。
进一步,所述线性激光为线性水平叠阵激光器。
进一步,所述线性激光为线性半导体激光器。
进一步,所述照明系统为线性近红外LED光源。
进一步,所述照明系统为线性LED光源,所述线扫描探测器为线性硅探测器。
进一步,所述成像镜头前设有滤光片。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明采用线性光源和线扫描探测器,大大提高了光源的功率密度,从而提高了检测速度,而且线扫描探测器可以在太阳能电池片移动的时候取像,减少了太阳能电池片移动机构加速、减速和静止的时间,不仅提高了速度,还简化了系统整体设计。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1是本发明的光学系统示意图;
图2是现有的垂直叠阵激光器示意图;
图3是本发明的水平叠阵激光器示意图;
图4是具有不同检测功能的光学模块组合系统示意图。
具体实施方式
本发明所述线扫描探测器检测太阳能电池片缺陷的系统,包括上料区,用于将太阳能电池片放置在太阳能电池片输送装置上;曝光区,设有位于太阳能电池片上方的检测成像系统;分拣区,用于将不同质量的太阳能电池片放到对应的收料盒中。
曝光区包括照明系统和成像系统,采用光致荧光原理对太阳能电池片实行曝光、成像,所述照明系统为线性光源,所述成像系统包括线性InGaAs探测器1以及与之匹配的成像镜头。
如图1所示,线性光源为线性半导体激光器2,通过光学整形成一条细光斑,投射到太阳能电池片3表面,成像镜头将太阳能电池片3表面的像聚焦于线性InGaAs探测器1上,成像镜头前设有滤光片(图中未示出),当太阳能电池片3表面和成像系统产生相对运动时,线性InGaAs探测器1就可获得太阳能电池片3表面的图像。
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