[发明专利]一种场分布测量方法和系统无效

专利信息
申请号: 201110111460.8 申请日: 2011-04-29
公开(公告)号: CN102759667A 公开(公告)日: 2012-10-31
发明(设计)人: 刘若鹏;徐冠雄;季春霖;岳玉涛 申请(专利权)人: 深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司
主分类号: G01R29/14 分类号: G01R29/14;G01R33/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 分布 测量方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及电场或磁场领域,具体地涉及一种场分布测量方法和系统。

背景技术

随着经济和社会的发展,电磁场与电磁波在现代社会的各个领域的广泛应用,其中一个典型应用在于医疗器械领域,用激发的磁场侦测人体的各种病症,基于磁场的检测技术已经取得广泛应用并取得了很好的效果。且,当对环境的磁场有一定的要求时,一般是采用磁场线圈人工制造一个三维磁场,但是,对三维磁场本身,尤其是近场磁场三维矢量的认识和磁场场强与方向的分布仍然有需要进一步的加深认识,对三维空间磁场场强、方向、特性的测量仍有大量的工作需要提高和深化。

在电子产品领域,随着主频的不断提高,布线密度的不断增加和大量高速器件的应用,电磁环境变得非常复杂。目前为了验证产品的电磁兼容特性,需要把产品拿到标准电磁兼容实验室去测量。

在无线通信领域,各种不同天线的辐射特性是我们所关心的。目前通常在微波暗室中进行天线的远场或者近场测量。

在上述应用领域,这些方法只能获得某些空间范围内的电磁场的一部分特性,有很大的局限性。

目前的方法是把待测量的空间细分,然后测量每个点的值。这样的方法数据量大,而且速度慢。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于,提供高效、精确、可视化的场分布测量方法和系统。

本发明解决其技术问题所采用的第一个技术方案是:提供一种场分布测量方法,包括:

S1.设置空间分辨率的初始值;

S2.使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;

S3.计算所获得的场空间频率;

S4.判断是否大于预设的空间频率,如果大于,则返回步骤S1;如果小于,则进入步骤S5;

S5.将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;

S6.从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。

在本发明所述的场分布测量方法中,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场分布数据。

在本发明所述的场分布测量方法中,所述的探头在二维空间进行扫描。

在本发明所述的场分布测量方法中,所述的探头在三维空间进行扫描。

在本发明所述的场分布测量方法中,所述的采样频率为场空间频率的2倍以上。

本发明解决其技术问题所采用的第二个技术方案是:提供一种场分布测量系统,包括:

设置模块,用于设置空间分辨率的初始值;

测量模块,与所述的设置模块相连,用于使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;

计算模块,与所述的测量模块相连,用于计算所获得的场空间频率;

判断模块,与所述的计算模块相连,用于判断是否大于预设的空间频率;

存贮模块,与所述的判断模块相连,用于将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;

显示模块:与所述的存贮模块相连,用于从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。

在本发明所述的场分布测量系统中,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场分布数据。

在本发明所述的场分布测量系统中,所述的探头在二维空间进行扫描。

在本发明所述的场分布测量系统中,所述的探头在三维空间进行扫描。

在本发明所述的场分布测量系统中,所述的电场分布数据为电场强度以及电场方向,所述磁场分布数据为磁场强度及磁场方向。

根据本发明的场分布测量方法和系统中,提供一种能够高效、精确、可视化的场分布,可有效测量具体的场分布特性。

附图说明

图1为本发明场分布测量方法流程图;

图2为场分布测量系统结构示意图。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。

请参阅图1,本发明实施例一,一种场分布测量方法,包括以下步骤:

S1.设置空间分辨率的初始值;

该初始值为经验取值,没有一定的规律,如:可取值每50厘米一个采样点,或取值为100厘米一个采样点,视实际需要,凭经验进行的。

S2.使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;

其中,采样频率为场空间频率的2倍以上。

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