[发明专利]测试磁头耐高温性能的方法及其装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试磁头性能的方法，尤其涉及一种测试磁头耐高温性能的方法。而且，本发明涉及一种测试磁头性能的装置，尤其涉及一种测试磁头耐高温性能的装置。

背景技术

包含多个旋转磁盘的硬盘驱动器被普遍用来将数据存储在其磁盘表面的磁性媒介上，而包含读传感器的可移动磁头用作从磁盘表面的磁轨上读取数据。

当前，磁阻(magnetoresistive，MR)读头由于其内嵌有一个更高灵敏度的MR元件而广泛应用在主流磁头中。磁头在使用前，必须进行一系列的性能测试，如耐高温性能、动态飞行高度(dynamic flying height，DFH)性能、信噪比(Signal-to-Noise Ratio，SNR)性能、可靠性、稳定性等。例如，一个具有较差的耐高温性能的磁头，其在高温环境下会产生大量的噪声。若磁头具有较差的SNR性能则会损害磁头的读取稳定性，最终影响磁头的读取性能，因此，磁头的性能测试显得十分重要和必要。

下述方法是一种测试MR读头的传统方法。如图1所示，该MR读头10包括两个硬磁112、层夹于两个硬磁112之间的MR元件114、以及放置于MR元件114和硬磁112两边的两个屏蔽层1116。为众所知，MR元件的电阻会随外部磁场的变化而变化，从而使MR读头的输出产生变化。施加一个具有平行于屏蔽层116并与MR读头10的空气承载面117(air bearing surface，ABS)成0°的方向19(下文称为“一般磁化方向”)的磁场，可以测出MR读头的输出电压，重复该种操作，继而计算出最高的输出电压和最低的输出电压之间的差值变化，该种差值变化用于估算输出变化是否在某一容许值之内。若输出变化在容许值之外，则该被测磁头被判定为不良磁头而被舍弃。更普遍地，现有技术中经常施加一个垂直于ABS 117的方向18的磁场，来测量磁头的输出电压，从中检测磁头的性能是否合格。

上述施加一般磁化方向和垂直于ABS的磁场的测试方法被广泛应用于磁头的DFH性能测试、SNR性能测试和可靠性及稳定性测试。然而，由于磁头的性能要求越来越高，因此上述的磁化的测试方法受到限制。至于磁头的耐高温性能测试，耐高温性能对这种一般磁化方向的磁化却十分不敏感，因此，磁头的耐高温性能测试的方法仍在研究当中。

美国专利公开No.20080049351A1揭露了一种测试磁头耐高温性能的方法。如图2所示，在磁头21的元件形成表面2101上设置一加热元件35，从而向磁头21的MR元件32施加热量和应力。具体地，当通电时，该加热元件35发热，此情况下，MR元件32及其周围的材料发生热膨胀，从而使MR元件32产生大量的内应力生，此外，MR元件32还会发生内部变形。从而，在此情况下，发生在MR元件32的输出的噪声值被测量出，进而识别出该被测磁头在高温环境下会产生潜在的形变从而产生噪声。

然而，由于磁头需在多次变化的高温环境下重复测试，因此温度的选择和控制需要很精确。若温度太高，则会存在在测试的过程中将良品磁头损坏的可能。

再且，上述方法只适用于内嵌有加热元件的磁头，对于没有加热元件的磁头则无法采用该方法来进行耐高温性能测试。

因此，亟待一种改进的测试磁头耐高温性能的方法，以及测试磁头性能的方法以克服上述缺陷。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种测试磁头耐高温性能的方法，其能够在不对磁头加热的情况下筛选出具有不佳的耐高温性能的不良磁头。

本发明的另一个目的在于提供一种测试磁头性能的方法，其能够检测出采用一般磁化的传统方法无法完全检测的不良磁头。

本发明的再一个目的在于提供一种测试磁头耐高温性能的装置，其能够在不对磁头加热的情况下筛选出具有不佳的耐高温性能的不良磁头。

本发明的又一个目的在于提供一种测试磁头性能的装置，其能够检测出采用一般磁化的传统方法无法完全检测的不良磁头。

为达到以上目的，本发明提供一种测试磁头耐高温性能的方法，所述磁头包括空气承载面及两屏蔽层，所述方法包括以第一方向向所述磁头施加多个不同强度的第一磁场，并测量第一输出参数曲线；以第二方向向所述磁头施加多个不同强度的第二磁场，并测量第二输出参数曲线；以及判断所述第一输出参数曲线和所述第二输出参数曲线中是否存在超出容许值的变化，从而筛选出不良磁头。其中，所述第一方向垂直于所述磁头的空气承载面，所述第二方向与所述空气承载面成一角度地穿过所述空气承载面，所述角度的绝对值为锐角。