[发明专利]透明导电膜湿法蚀刻液组合物无效
申请号: | 201110109547.1 | 申请日: | 2011-04-29 |
公开(公告)号: | CN102226087A | 公开(公告)日: | 2011-10-26 |
发明(设计)人: | 张军;常积东;李承孝 | 申请(专利权)人: | 西安东旺精细化学有限公司 |
主分类号: | C09K13/00 | 分类号: | C09K13/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 徐平 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透明 导电 湿法 蚀刻 组合 | ||
技术领域
本发明涉及透明导电膜湿法蚀刻液组合物,尤其涉及一种可在等离子显示器(PDP),液晶显示器(LCD),有机发光二极管显示器(OLED)等中用作像素电极的透明导电膜如氧化铟锌(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻液。
背景技术
由于透明导电膜如氧化铟锌(ITO)具有多种独特的性质,如低电阻率、高可见光透过率、膜层硬度强且对基底附着力大、优良的化学稳定性等,因而,已经广泛地应用于LCD、PDP、OLED等平面显示领域。
目前,ITO蚀刻方法主要为湿法蚀刻,采用各种无机酸/盐或有机酸的水溶液组合物。常用的无机酸有盐酸、硫酸、磷酸、硝酸、碘酸、氢溴酸,有机酸有草酸、乙酸、柠檬酸。其中,盐酸+硝酸体系,蚀刻反应剧烈,生产中无法精确控制;另外,盐酸、硝酸的挥发造成体系组分含量不恒定,以及对环境的污染。磷酸体系,蚀刻后有残渣。三氯化铁体系,蚀刻速率快,但是侧蚀量也大,且对环境污染大。碘酸或氢溴酸体系,虽然蚀刻性好,但易游离出卤素单质或挥发,不稳定且毒性大。草酸体系,蚀刻速率慢,需要较高温度条件,且低温时易析出草酸晶体。
发明内容
为了解决现有技术的不足,本发明提供一种改良的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物蚀刻速率均匀稳定,无残留,不腐蚀配线,不含易挥发物质。
本发明的技术方案如下:
一种透明导电膜湿法蚀刻液组合物,该蚀刻液组合物为草酸和乙酸的水溶液,其中草酸含量为0.5-10wt%;乙酸含量为0.1-50wt%。这里所讲的酸的含量均是指其有效成分占蚀刻液组合物的质量分数。
本发明的蚀刻液组合物若还含有0.01-10wt%铵盐,效果较佳。
上述的铵盐优选硫酸铵、硫酸氢胺、硝酸铵、碳酸铵、碳酸氢铵、氯化铵、溴化铵、甲酸铵、乙酸铵、丙酸铵、草酸铵、苯甲酸铵中的一种或两种。实际上,一般常用的铵盐均能够应用于本发明。
本发明的蚀刻液组合物若还含有0.001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、乙酸配合使用,效果较佳;或者蚀刻液组合物若还含有0.001-10wt%表面活性剂,与上述草酸、乙酸、铵盐配合使用,效果更佳。
上述的表面活性剂优选阳离子型、阴离子型、非离子型、Gemini型和两性表面活性剂中的一种或两种。
上述蚀刻液组合物中,草酸含量为1-7wt%;乙酸含量为1-30wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水;此种配比效果较佳。
上述的表面活性剂优选Gemini型表面活性剂。此时的蚀刻液组合物配比也采用:草酸含量为1-7wt%;乙酸含量为1-30wt%;铵盐含量为0.1-8wt%;表面活性剂含量为0.01-10wt%;余量为水;则效果更佳。
本发明的蚀刻液组合物的最佳配比为:草酸含量为2-4wt%;乙酸含量为5-20wt%;铵盐含量为0.5-5wt%;表面活性剂含量为0.1-5wt%;余量为水。
经验证,以本发明的上述基础配方0.5-10wt%草酸、0.1-50wt%乙酸为基本方案制得的透明导电膜湿法蚀刻液组合物,能够用于等离子显示器(PDP)、液晶显示器(LCD)、有机发光二极管显示器(OLED)透明导电膜氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)图样化的湿法蚀刻。
本发明具有稳定的蚀刻能力,蚀刻后无残渣,同时对铝、钼等金属配线无腐蚀,不含易挥发物质,不污染环境。
具体实施方式
本发明提供如下透明导电膜湿法蚀刻液组合物,其含有
(1)0.5-10wt%的草酸;
(2)0.1-50wt%的乙酸;
(3)余量水。
本发明中,草酸起均匀蚀刻的作用。草酸的含量为0.5-10wt%,优选1-7wt%,更优选2-4wt%.当含量小于0.5wt%时,蚀刻速率小,蚀刻效果差;当含量大于10wt%时,得不到更好的蚀刻效果,且易结晶析出。
本发明中,乙酸起促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的作用。乙酸的含量为0.1-50wt%,优选1-30wt%,更优选5-20wt%.当含量小于0.1wt%时,起不到促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的作用;当含量大于50wt%时,得不到更好的促进蚀刻速率、调节蚀刻速率平稳、浸润板面的的效果。
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