[发明专利]自诊断系统和测试电路判断方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请基于并要求于2010年4月23日提出的日本专利申请No.2010-099582的优先权权益；其全部公开内容通过引用结合于此。

技术领域

本发明涉及自诊断系统和测试电路判断方法，并且更具体而言，涉及包括具有冗余配置的测试电路的自诊断系统以及用于判断具有冗余配置的测试电路的方法。

背景技术

近年来，已经积极地开发了内建自测试(BIST)电路，其中将用于实施LSI(大规模集成电路)测试的LSI测试器功能安装到芯片中。与其中将LSI测试器安装在芯片外部的情况相比较，使用BIST电路使得减少了LSI测试的时间和成本。

日本未经审查的专利申请公布No.2003-068865公开了一种自诊断装置的配置。自诊断装置包括用于执行半导体器件的自诊断的BIST电路。参考图11来描述在日本未经审查的专利申请公布No.2003-068865中公开的自诊断装置的配置。自诊断装置包括半导体器件150和160、主控制器400、BIST控制器200和存储器300。半导体器件150和160中的每个包括多个功能块和多个BIST电路。主控制器400控制半导体器件150和160。BIST控制器200控制BIST电路。存储器300存储用于控制BIST控制器200的程序。

半导体器件150和160是要被诊断的半导体器件。半导体器件150包括功能块151和152以及BIST电路201和202。BIST电路201执行功能块151的自诊断，并且BIST电路202执行功能块152的自诊断。BIST电路201和202被集成到半导体器件150中，并且分别被布置在功能块151和152的附近。类似地，半导体器件160包括功能块161和162以及BIST电路211和212。BIST电路211执行功能块161的自诊断，并且BIST电路212执行功能块162的自诊断。BIST电路201和202被集成到半导体器件160中，并且分别被布置在功能块161和162的附近。

BIST控制器200分别通过信号线301、302、311和312被连接到BIST电路201、202、211和212，并且向BIST电路201、202、211和212发送对应于功能块的诊断条件。BIST电路中的每个向要诊断的功能块发送从BIST控制器200接收的诊断条件。此外，当从功能块接收诊断结果时，每个BIST电路向BIST控制器200发送所述诊断结果。BIST控制器200将从每个BIST电路接收的诊断结果与从存储器300接收的诊断期望值相比较。存储器300通过信号线210被连接到BIST控制器200，并且存储BIST电路用于诊断每个功能块的诊断条件、每个功能块的诊断期望值和每个功能块的诊断结果。

主控制器400被连接到外部装置(未示出)，例如用于测试的测试器或诸如键盘的人机接口装置。此外，主控制器400通过信号线220连接到BIST控制器200，并且分别通过输入/输出信号线410、420、430和440连接到功能块的输入/输出端子。主控制器400基于来自外部人机接口装置的指令、通过使用功能块来执行诸如一般数值运算或图像处理的处理。同时，主控制器400还可以基于从外部测试器接收的诊断模式来执行每个功能块的诊断。此外，主控制器400可以向外部测试器等发送半导体器件的功能块的、由BIST控制器200获得的自诊断结果。

发明内容

在提高自诊断可靠性领域，在欧洲强制获取ECU水平的功能安全认证，因此政府对车辆等检查对于标准的遵守。在这种情况下，越来越需要诊断要被诊断的功能块以及用来提高用于执行诊断控制的测试电路的可靠性的对策。

在日本未经审查的专利申请公布No.2003-068865中公开的自诊断装置在自诊断中执行要被诊断的功能块的诊断。然而，用于执行诊断控制的测试电路的可靠性不保险。换句话说，如果由于在自诊断操作期间的噪声而出现故障，或者在测试电路中出现故障，那么即使当未正确地诊断功能块时，自诊断结果也可能被错误地判断为正确结果。

本发明的第一方面是自诊断系统，包括：测试电路，其包括第一和第二诊断控制器，所述第一和第二诊断控制器用于通过使用在测试目标电路中的测试模式的执行结果来判断测试目标电路的正常性；以及测试电路判断单元，其用于通过将从第一诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果与从第二诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果相比较来判断测试电路的正常性。