[发明专利]调色剂附着强度测定装置及调色剂附着强度测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测定双成分显影剂中含有的调色剂和载体的附着强度分布的调色剂附着强度测定装置及调色剂附着强度测定方法。

背景技术

一直以来，使用由载体及含有磁性体成分的载体构成的双成分显影剂的电子照相方式的图像形成装置为世人所知。在这种图像形成装置中，在感光体表面形成和图像数据对应的静电潜影，通过调色剂使该静电潜影显影并可视化。这种情况下，将含有调色剂和载体的双成分显影剂传送到和感光体表面相对的位置，通过因上述静电潜影产生作用的、比调色剂和载体的附着强度(附着力)强的静电吸引力，使调色剂向上述静电潜影移动。

而在使用双成分显影剂的显影工艺中，人们知道调色剂的比电荷、调色剂的形状等，会对调色剂和载体的附着强度造成影响。并且知道，调色剂的带电性因长期使用会逐渐降低。

当调色剂和载体的附着强度降低时，产生从显影装置移动到感光体的调色剂的量过大而使图像质量下降，或调色剂从显影装置飞散等问题。

因此，要求一种在进行双成分显影剂中使用的调色剂的开发、到显影工艺的优化、退化程度的评价等的基础上，可容易且正确地测定调色剂和载体的附着强度或附着强度分布的技术。

一般情况下，调色剂等的粉体的附着强度通过测定将粉体从粉体附着的被附着体分离所需的力来检测。并且，作为使粉体从被附着体分离的方法，离心分离法、电场法、喷放法等较为公知。

在离心分离法(例如参照专利文献1～3)中，在使粉体附着的试料基板相对的位置上，配置接收从试料基板分离的粉体的接收基板，将试料基板设置在离心分离装置的转子内，利用转子的旋转产生的离心力，使粉体从试料基板分离，并附着到接收基板。并且测定附着到接收基板的粉体的质量，根据粉体的质量及转子的旋转数，计算分离所需的离心力，求出粉体相对于试料基板的附着强度。

在电场法(例如参照专利文献4～6)中，在使粉体附着的导电性试料基板相对的位置上，配置接收从试料基板分离的粉体的导电性接收基板，向配置于试料基板一侧的电极及配置于接收基板一侧的电极之间施加电场，从而使带电的粉体从试料基板分离，附着到接收基板上。并且，测定附着到接收基板的粉体的质量，利用测定的质量、提前测定好的粉体的电荷量、施加的电场强度，求出分离所需的静电力，从而计算出粉体相对于试料基板的附着强度。

在喷放法(例如参照专利文献2)中，向附着有粉体的试料基板以预定的风速喷射压缩空气，从而使粉体从试料基板分离，用集尘机捕捉分离的粉体，根据集尘机捕捉的粉体的体积，求出粉体受到的空气阻力，据此计算出粉体相对于试料基板的附着强度。

并且，专利文献7公开了以下方法：高速移动附着有粉体的试料基板，从而使粉体从试料基板分离，根据分离后的粒子数及粒子质量，检测出粉体相对于试料基板的附着强度。

并且，专利文献8公开了以下方法：使调色剂和载体的混合物构成的显影剂磁附着到试料基板上，向该显影剂施加一定的电场的同时，使试料基板相对基板面向垂直方向高速移动，从而使调色剂脱离载体，求出脱离前后的粒子数及粒子质量，从而测定载体和调色剂的附着强度。

专利文献1：日本特开平10-267772号公报(平成10年10月9日公开)

专利文献2：日本特开平11-237327号公报(平成11年8月31日公开)

专利文献3：日本特开平11-258081号公报(平成11年9月24日公开)

专利文献4：日本特开平11-153538号公报(平成11年6月8日公开)

专利文献5：日本特开2001-228075号公报(平成13年8月24日公开)

专利文献6：日本特开2005-201884号公报(平成17年7月28日公开)

专利文献7：日本特开2003-156426号公报(平成15年5月30日公开)

专利文献8：日本特开2003-098065号公报(平成15年4月3日公开)

但在上述专利文献1～7的方法中，虽然可测定粉体和试料基板之间的附着强度，但无法测定调色剂和载体之间的附着强度。即，在专利文献1～7的方法中，不仅调色剂从试料基板分离，载体也分离，因此难以测定调色剂和载体的附着强度。并且，当使用喷放法时，难于使均匀的风速的气流吹到显影剂中的各调色剂，以及由于气流不仅调色剂飞散、载体也飞散，测定结果产生变差，难以进行重现性良好的测定。