[发明专利]测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种用于RAID(Redundant Array of Independent Disk 独立冗余磁盘阵列)自动测试的测试装置。

背景技术

RAID技术是加州大学伯克利分校1987年提出，最初是为了组合小的廉价磁盘来代替大的昂贵磁盘，同时希望磁盘失效时不会使对数据的访问受损失而开发出一定水平的数据保护技术。由于该技术可以充分发挥出多块硬盘的优势，可以提升硬盘速度，增大容量，提供容错功能确保数据安全性，易于管理，在任何一块硬盘出现问题的情况下都可以继续工作，因此在服务器上得以广泛应用。破坏测试是RAID的可靠性测试中最为重要的测试。当前测试的方法通常是通过手动移除RAID其中一颗成员硬盘从而破坏RAID，观察其指示灯的变化是否正常，然后重新插入另外一颗新的硬盘，观察RAID系统会开始重建RAID的动作和指示灯是否正常，最后检查重建RAID是否完成和指示灯状态是否正常。该种测试方法操作不便，不符合现今对于高度自动化的需求与发展。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种RAID自动测试装置。

一种测试装置，包括RAID模块、替换模块、状态识别模块、切换模块、控制模块和显示模块。所述RAID模块包括若干RAID成员。所述替换模块包括至少一块硬盘，用于替换所述RAID模块中的RAID成员。所述状态识别模块用于确定所述RAID模块和替换模块的当前状态，并把状态信息送给控制模块。所述切换模块用于实现RAID模块中的RAID成员和替换模块之间的切换。所述控制模块控制其它模块以及判断测试结果。显示模块显示整个测试结果与测试所用时间。

测试装置中，由于所述状态识别模块能够自动识别RAID模块中的RAID成员的状态，当有硬盘被移除时，将该状态信息传送给控制模块，并由控制模块控制切换模块自动用替换模块替代RAID模块中的RAID成员，从而实现自动移除RAID成员，并自动替换新硬盘进行重建RAID的功能，大大简化了RAID的可靠性测试。显示模块还可将显示整个测试结果与测试所用时间实时显示，使得该测试得可视化程度大幅提高，便于准确的判断测试失败的原因。

附图说明

图1是本发明一实施方式提供的一种测试装置模块化示意图。

图2是图1中实施方式提供的一种测试装置的外观正面示意图。

图3是图1中实施方式提供的一种测试装置的外观背面示意图。

主要元件符号说明