[发明专利]大型轴承高度和套圈高度及变动量测量仪无效

专利信息
申请号: 201110102959.2 申请日: 2011-04-25
公开(公告)号: CN102338627A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 石殿阁 申请(专利权)人: 大连联合风电轴承有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02;G01B21/24
代理公司: 大连智慧专利事务所 21215 代理人: 孙宇宏
地址: 116300 辽宁省大连*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 大型 轴承 高度 动量 测量仪
【说明书】:

技术领域

发明涉及轴承测量仪器,尤其涉及大型轴承高度和套圈高度及变动量测量仪。 

背景技术

在轴承行业大型轴承生产中如何精确测量大型轴承高度、套圈端面高度及变动量一直是困惑大型轴承生产的一大难题。一般普通测量仪不能置于大型套圈上测量,用卡尺测量精度低、误差大,经常造成质量问题影响生产。 

发明内容

本发明公开一种大型轴承高度和套圈高度及变动量测量仪,通过将测量仪置于大型轴承或套圈上进行测量,解决了大型轴承高度和套圈高度及变动量的难以精确测量的问题。 

为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:测量仪的测量平板(5)固定在立柱(1)下端与立柱(1)合为一体;V形支点(3)安装在立柱(1)的下部;表架(7)安装在立柱(1)的上端,仪表(6)安装在表架(7)前端。 

所述V形支点(3)通过支点锁紧手柄(4)安装在立柱(1)上,V形支点(3)可紧固在立柱(1)上,也可上下调整位置。 

所述表架(7)通过表架锁紧手柄(2)安装在立柱(1)上,表架(7)可固定在立柱(1)上,也可上下调整位置。 

所述仪表(6)通过仪表锁紧手柄(9)安装在表架(7)上,仪表(6)可固定在表架(7)上,也可上下调整高度。 

本发明的有益效果是:外形体积小,重量只有0.5公斤左右,实现了将测量仪置于大型轴承或套圈上精确测量轴承高度和套圈高度及变动量;采用标准件比较法测量和仪表示值,测量精准;当测量实际尺寸超差时,可及时修复,保证了加工工艺基准,显著提高了大型轴承的生产效率和产品质量。 

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步描述。 

图1是大型轴承高度和套圈高度及变动量测量仪的主视图; 

图2是仪表锁紧手柄的左视图; 

图3是大型轴承套圈高度及变动量测量示意图; 

图4是大型轴承高度及变动量测量示意图。 

图标:图标:立柱1、表架锁紧手柄2、V形支点3、支点锁紧手柄4、 测量平板5、仪表6、表架7、标准件8、仪表锁紧手柄9、外圈10、轴承11。 

具体实施方式

以测量大型轴承2410高度和外圈高度及变动量为实施例。 

解决大型轴承高度和套圈高度及变动量的测量,首先是测量仪的外形体积要小、重量要轻,适合置于轴承或套圈上进行测量,其次是测量仪在大型套圈上能水平移动,必须有定位支承与测量平面配合。 

如图1、图2所示,测量仪的测量平板5固定在立柱1下端与立柱1合为一体;V形支点3安装在立柱1下部,利用支点锁紧手柄4将V形支点3紧固在立柱1上,或上、下移动位置;表架7由表架锁紧手柄2固定在立柱1,或上、下调整位置;仪表6通过仪表锁紧手柄9固定在表架7前端,,也可以上、下调整高度,各部相互连接构成了一台完整的测量仪。 

如图1所示,测量前先对表,按照被测外圈10高度选择高度标准件8,置于测量平板5与仪表6之间,调整表架7在立柱1上、下位置,使仪表6表尖接触标准件8的端面,并有一定接触力,微调仪表6在表架7上、下位置,使仪表6指示标准件8的偏差值,再反复微动标准件8,仪表6指示标准件偏差值不变化,撤下标准件8,对表完毕;垫高被测外圈10;再调整定位支承的V形支点3接触外圈10的外径,并且接触高度为外圈10宽度的1/3——1/4即可。测量时,如附图3所示,一手托住测量平板5插入被测外圈10底面,并使测量平板5的测量面紧贴外圈10底面,一手扶住立柱1沿外圈10圆周慢慢转一周,在仪表6上精确测出被测外圈10高度尺寸及变动量(也称为平行度)。 

如图4所示,测量大型轴承11高度的调整方法与测量套圈高度的调整相同,仪器调整和对好仪表后,测量轴承11高度时,先将表架7换一个长表架,手托住测量平板5插入轴承的底面,并使测量平板5测量面紧贴轴承11的底面,使V形支点3接触被测轴承外径,使仪表6接触在轴承11的上端面,即可精确测出被测轴承高度尺寸。 

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