[发明专利]用于新兴存储器技术的可编程测试引擎(PCDTE)

权利要求书

1.一种集成电路芯片，包括：

接收所述集成电路芯片外部的信号的接口；以及

耦合至所述接口的可编程测试引擎，其包括：

存储由所述接口接收的一个或多个指令的可编程指令存储器；

存储多个配置值的可编程配置存储器；

多个计数器，每一个由相应的一个配置值来配置；以及

控制器，其访问来自所述可编程指令存储器的一个或多个指令，

并且作为响应，从所述计数器中检索存储器访问地址。

2.如权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，所述控制器被耦合以便从所述计数器接收所述配置值，其中所述控制器响应于所述配置值更新所述计数器。

3.如权利要求1所述的集成电路芯片，进一步包括存储器，其中提供从所述计数器检索的所述存储器访问地址以便访问所述存储器。

4.如权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，所述可编程配置存储器被耦合到所述接口，其中由所述接口接收所述配置值。

5.如权利要求1所述的集成电路芯片，进一步包括被耦合以从所述计数器接收所述存储器访问地址的传送器，其中所述传送器将所述存储器访问地址从所述集成电路芯片中传出。

6.如权利要求5所述的集成电路芯片，其特征在于，所述传送器包括串行化所述存储器访问地址的串行器。

7.如权利要求5所述的集成电路芯片，进一步包括被耦合以接收由所述传送器从所述集成电路芯片传出的所述存储器访问地址的接收器。

8.如权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，多个计数器包括：

第一组计数器；以及

将所述第一组计数器的内容作为存储器访问地址路由的第一开关。

9.如权利要求8所述的集成电路芯片，其特征在于，所述控制器响应于所述可编程配置存储器中存储的所述配置值来配置所述开关。

10.如权利要求1所述的集成电路芯片，进一步包括第一多个数据寄存器，每个寄存器存储由所述可编程配置存储器提供的作为存储器访问数据值的配置值。

11.如权利要求10所述的集成电路芯片，进一步包括第二多个数据寄存器，每个寄存器存储从所述计数器检索的作为存储器访问数据值的一部分存储器访问地址。

12.如权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，所述配置值中的所选配置值指定当所述计数器届满时是否增加计数器的复位值。

13.如权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，所述配置值中的所选配置值指定由一组计数器构成的存储器访问地址的顺序。

14.如权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，每个所述指令包括用于指定读访问的读参数以及用于指定写访问的写参数。

15.如权利要求1所述的集成电路芯片，其特征在于，每个所述指令包括用于指定所述计数器之一作为所述指令的循环计数器的参数。

16.一种在集成电路芯片上实现可编程测试引擎的方法，包括：

存储从所述集成电路芯片的外部位置接收的一个或多个指令；以及

在所述集成电路芯片上执行所述一个或多个指令，其中执行所述一个或多个指令中的第一指令包括：

响应于所述第一指令从多个计数器中选择第一计数器；

路由所述第一计数器的内容作为第一存储器访问地址；以及

响应于所述第一存储器访问地址访问存储器。

17.如权利要求16所述的方法，其特征在于，执行所述第一指令进一步包括：

响应于所述第一指令从所述多个计数器中选择第二计数器；

路由所述第二计数器的内容作为第二存储器访问地址；以及

响应于所述第二存储器访问地址访问存储器。

18.如权利要求16所述的方法，其特征在于，执行所述第一指令进一步包括：

响应于所述第一指令从多个数据寄存器中选择第一数据寄存器；

路由所述第一数据寄存器的内容作为第一数据值；以及

将所述第一数据值写到由所述第一存储器访问地址指定的所述存储器地址中。